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用于半導(dǎo)體元器件高溫存儲試驗可靠加熱技術(shù)
一、設(shè)備名稱：精密高溫試驗箱型號：LS-RUL-60二、技術(shù)指標及驗收標準1.性能（為空載時,其室溫在25℃）1.1溫度范圍：RT+10~200℃(250℃
精密型高溫烤箱：主要應(yīng)于高精密儀器儀表老化試驗用
一、設(shè)備名稱：精密高溫試驗箱型號：LS-RUL-45二、技術(shù)指標及驗收標準1.性能（為空載時,其室溫在25℃）1.1溫度范圍：RT+10~200℃(250℃
技術(shù)參數(shù)：一、設(shè)備名稱：高溫試驗箱型號：LS-RUL-100二、技術(shù)指標及驗收標準1
產(chǎn)品主要指標名稱：精密高溫試驗箱型號：LS-RUL-80適用范圍：該產(chǎn)品適用于功率模塊
用于高質(zhì)量產(chǎn)品要求的可靠加熱技術(shù)
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