便攜式局部放電檢測(cè)儀

局放理論概述

在開始我們的實(shí)驗(yàn)以前，我們首先應(yīng)該對(duì)局部放電有個(gè)初步的了解，為什么要測(cè)量局部放電？局部放電有什么危害？怎樣準(zhǔn)確測(cè)量局部放電？有了上述理論基礎(chǔ)可以幫助我們理解測(cè)量過程中的正確操作。

局部放電的定義及產(chǎn)生原因

在電場(chǎng)作用下，絕緣系統(tǒng)中只有部分區(qū)域發(fā)生放電，但尚未擊穿，（即在施加電壓的導(dǎo)體之間沒有擊穿）。這種現(xiàn)象稱之為局部放電。局部放電可能發(fā)生在導(dǎo)體邊上，也可能發(fā)生在絕緣體的表面上和內(nèi)部，發(fā)生在表面的稱為表面局部放電。發(fā)生在內(nèi)部的稱為內(nèi)部局部放電。而對(duì)于被氣體包圍的導(dǎo)體附近發(fā)生的局部放電，稱之為電暈。由此 總結(jié)一下局部放電的定義，指部分的橋接導(dǎo)體間絕緣的一種電氣放電，局部放電產(chǎn)生原因主要有以下幾種：

1、電場(chǎng)不均勻。

2、電介質(zhì)不均勻。

3、制造過程的氣泡或雜質(zhì)。最經(jīng)常發(fā)生放電的原因是絕緣體內(nèi)部或表面存在氣泡；其次是有些設(shè)備的運(yùn)行過程中會(huì)發(fā)生熱脹冷縮,不同材料特別是導(dǎo)體與介質(zhì)的膨脹系數(shù)不同，也會(huì)逐漸出現(xiàn)裂縫；再有一些是在運(yùn)行過程中有機(jī)高分子的老化，分解出各種揮發(fā)物，在高場(chǎng)強(qiáng)的作用下，電荷不斷地由導(dǎo)體進(jìn)入介質(zhì)中， 在注入點(diǎn)上就會(huì)使介質(zhì)氣化。

儀器別稱

局部放電測(cè)試儀、局放儀、數(shù)字局放儀、局部放電測(cè)試系統(tǒng)、數(shù)字局部放電檢測(cè)系統(tǒng)、數(shù)字局部放電測(cè)試儀、數(shù)字式局部放電檢測(cè)、 數(shù)字局放儀、局部放電檢測(cè)儀、局部放電測(cè)試儀、 局部放電測(cè)試系統(tǒng)裝置、局部放電試驗(yàn)裝置、數(shù)字式局部放電測(cè)試儀、程控局部放電測(cè)試儀、局部放電試驗(yàn)設(shè)備、局部放電監(jiān)測(cè)系統(tǒng)、局部放電檢測(cè)系統(tǒng)、局部放電試驗(yàn)設(shè)備、變壓器局部放電試驗(yàn)測(cè)試儀、高頻局部放電檢測(cè)、便攜式局部放電測(cè)試儀、局部放電綜合分析儀、 局放檢測(cè)儀、局部放電檢測(cè)、高壓變壓器局部放電檢測(cè)、電纜局放測(cè)試儀、局部放電試驗(yàn)設(shè)備、超高頻局部放電檢測(cè)、變電站局部放電檢測(cè)儀、窄頻帶局部放電測(cè)量?jī)x、電纜帶電局部放電檢測(cè)、主變壓器局部放電檢測(cè)、發(fā)電機(jī)局部放電測(cè)量系統(tǒng)

局部放電的測(cè)量原理：

局放儀運(yùn)用的原理是脈沖電流法原理，即產(chǎn)生一次局部放電時(shí)，試品Cx兩端產(chǎn)生一個(gè)瞬時(shí)電壓變化Δu，此時(shí)若經(jīng)過電容Ck耦合到一檢測(cè)阻抗Zd上，回路就會(huì)產(chǎn)生一脈沖電流I，將脈沖電流經(jīng)檢測(cè)阻抗產(chǎn)生的脈沖電壓信息，予以檢測(cè)、放大和顯示等處理，就可以測(cè)定局部放電的一些基本參量（主要是放電量q）。在這里需要指出的是，試品內(nèi)部實(shí)際的局部放電量是無法測(cè)量的，因?yàn)樵嚻穬?nèi)部的局部放電脈沖的傳輸路徑和方向是極其復(fù)雜的，因此我們只有通過對(duì)比法來檢測(cè)試品的視在放電電荷，即在測(cè)試之前先在試品兩端注入一定的電量，調(diào)節(jié)放大倍數(shù)來建立標(biāo)尺，然后將在實(shí)際電壓下收到的試品內(nèi)部的局部放電脈沖和標(biāo)尺進(jìn)行對(duì)比，以此來得到試品的視在放電電荷。

便攜式局部放電檢測(cè)儀

概述

智能局部放電檢測(cè)儀是我公司推向市場(chǎng)的新一代數(shù)字智能儀器，該儀器在原有產(chǎn)品的基礎(chǔ)上采用嵌入式ARM系統(tǒng)作為中央處理單元，控制12位分辨率的高速模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片進(jìn)行數(shù)據(jù)采集，將采集到的數(shù)據(jù)存放在雙端口RAM中。實(shí)現(xiàn)從模擬到數(shù)字的跨越。使用26萬色高分辨率TFT-LCD數(shù)字液晶顯示模組實(shí)時(shí)顯示放電脈沖波形，配備VGA接口，可外接顯示器。與傳統(tǒng)的模擬式示波管顯示局部放電檢測(cè)儀相比有以下特點(diǎn)：

1.彩色顯示器，雙色顯示波形，更清晰直觀；

2.可鎖定波形，更方便仔細(xì)查看放電波形細(xì)節(jié)；

3.自動(dòng)測(cè)量并顯示試驗(yàn)電源時(shí)基頻率，無需手動(dòng)切換；

4.配備VGA接口，可外接大尺寸顯示器；

5.與示波管相比壽命更長(zhǎng)。

6.具有波形鎖定、打印試驗(yàn)報(bào)告功能

本儀器檢測(cè)靈敏度高，試樣電容覆蓋范圍大，適用試品范圍廣，輸入單元（檢測(cè)阻抗）配備齊全，頻帶組合多（九種）。儀器經(jīng)適當(dāng)定標(biāo)后能直讀放電脈沖的放電量。

本儀器是電力部門、制造廠家和科研單位等廣泛使用的局部放電測(cè)試儀器。

主要技術(shù)指標(biāo)：

1．可測(cè)試品的電容范圍： 6PF—250uF。

2．檢測(cè)靈敏度（見表一）：

表一

3、放大器頻帶：

（1）低端：10KHZ、20KHZ、40KHZ任選。

（2）gao端：80KHZ、200KHZ、300KHZ任選。

4、放大器增益調(diào)節(jié)：

粗調(diào)六檔，檔間增益20±1dB；細(xì)調(diào)范圍≥20dB。每檔之間數(shù)據(jù)為10倍關(guān)系：如第三檔檢測(cè)數(shù)據(jù)為98，則第二檔顯示數(shù)據(jù)為9.8，如在第三檔檢測(cè)數(shù)據(jù)超過120，則應(yīng)調(diào)至第二檔來檢測(cè)數(shù)據(jù)，所得數(shù)據(jù)應(yīng)乘以10才為實(shí)際測(cè)量值。

5、時(shí)間窗：

（1）窗寬：可調(diào)范圍15°-175°；

（2）窗位置：每一窗可旋轉(zhuǎn)0°- 180°；

（3）兩個(gè)時(shí)間窗可分別開或同時(shí)開。

6、放電量表：0-100 誤差<±3％（以滿度計(jì)）。

7、橢圓時(shí)基：

（1）頻率：50HZ、或外部電源同步（任意頻率）

（2）橢圓旋轉(zhuǎn)：以30°為一檔，可作360°旋轉(zhuǎn)。

（3）顯示方式：橢圓—直線。

8、試驗(yàn)電壓表：精度：優(yōu)于±3％（以滿度計(jì)）。

9、體積： 320×480×190（寬×深×高）mm3。

10、重量：約15Kg。

系統(tǒng)工作原理：

本機(jī)的局部放電測(cè)試原理是高頻脈沖電流測(cè)量法（ERA法）。

試品Ca在試驗(yàn)電壓下產(chǎn)生局部放電時(shí)，放電脈沖信號(hào)經(jīng)藕合電容Ca送入輸入單元，由輸入單元拾取到脈沖信號(hào)，經(jīng)低噪聲前置放大器放大，濾波放大器選擇所需頻帶及主放大器放大（達(dá)到所需幅值與產(chǎn)生零標(biāo)志脈沖）后，在示波屏的橢圓掃描基線上產(chǎn)生可見的放電脈沖，同時(shí)也送至脈沖峰值表顯示其峰值。

時(shí)間窗單元控制試驗(yàn)電壓每一周期內(nèi)脈沖峰值的工作時(shí)間，并在這段時(shí)間內(nèi)將示波屏的相應(yīng)顯示區(qū)加亮，用它可以排除固定相位的干擾。

試驗(yàn)電壓表經(jīng)電容分壓器產(chǎn)生試驗(yàn)電壓過零標(biāo)志訊號(hào)，在示波屏上顯示零標(biāo)脈沖，橢圓時(shí)基上兩個(gè)零標(biāo)脈沖，通過時(shí)間窗的寬窄調(diào)節(jié)可確定試驗(yàn)電壓的相位，試驗(yàn)電壓大小由數(shù)字電壓表指示。

整個(gè)系統(tǒng)的工作原理可參看方框圖（圖一）。

局部放電測(cè)試當(dāng)中應(yīng)該注意的問題

1、實(shí)驗(yàn)前，試品的絕緣表面（尤其是高壓端）應(yīng)作清潔化處理

2、各連接點(diǎn)應(yīng)接觸良好，尤其是高壓端不要留下尖銳的接點(diǎn)，高壓導(dǎo)線應(yīng)盡可能粗以防電暈，可用蛇皮管。

3、輸入單元要盡量靠近試品，而且接地要可靠，接地線最好用編織銅帶。主機(jī)也須接地，以保證安全。

4、試驗(yàn)回路盡可能緊湊。即高壓連線盡可能短，試驗(yàn)回路所圍面  積盡可能小。

5、在進(jìn)行110KV及以上等級(jí)的局放試驗(yàn)時(shí)，試品周圍的懸浮金屬物體應(yīng)妥善接地。

6、考慮到油浸式試品局部放電存在滯后效應(yīng)，因此在局放試驗(yàn)前幾小時(shí)，不要對(duì)試品施加超過局部放電試驗(yàn)電壓的高電壓。