詳細摘要： JXA-8530F Plus 場發(fā)射電子探針顯微分析儀2003年日本電子推出了世界商業(yè)化場發(fā)射電子探針（FE-EPMA），此后被廣泛地應用于金屬、材料、地質等各...
產(chǎn)品型號：所在地：廣州市更新時間：2023-04-21 在線留言
廣州文明機電有限公司
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詳細摘要： JXA-8530F Plus 場發(fā)射電子探針顯微分析儀2003年日本電子推出了世界商業(yè)化場發(fā)射電子探針（FE-EPMA），此后被廣泛地應用于金屬、材料、地質等各...
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詳細摘要： JXA-8230 電子探針顯微分析儀可以安裝通用性強、使用方便的能譜儀X射線探測器，組合使用WDS和EDS，能提供無縫、舒適的分析環(huán)境。
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詳細摘要： IB-09060CIS™ 低溫冷凍離子切片儀 易受熱損傷的樣品，也能方便地制作出薄膜樣品和截面樣品。冷卻保持時間長，有效地抑制了熱損傷。
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詳細摘要： JSM-IT800 熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡 JSM-IT800具備高分辨觀察和高速元素面分析，能夠滿足客戶的各種需求。該裝置配備浸沒式肖特基場發(fā)射電子槍、新一代...
產(chǎn)品型號：所在地：廣州市更新時間：2023-04-21 在線留言
詳細摘要： JEM-1400Flash 透射電子顯微鏡JEM-1400Flash配備了高靈敏度sCMOS相機、超廣視野的蒙太奇系統(tǒng)以及光學顯微鏡圖像的聯(lián)動功能，是一款新型的...
產(chǎn)品型號：所在地：廣州市更新時間：2023-04-13 在線留言
詳細摘要： JEM-ARM200F NEOARM 原子級透射電子顯微鏡“NEOARM" 標配了日本電子獨自開發(fā)的冷場發(fā)射電子槍（Cold-FEG）和全新的高階球差校正器（A...
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詳細摘要： JEM-ARM300F2 原子分辨率分析型電子顯微鏡JEM-ARM300F2是GRAND ARMTM的第二代產(chǎn)品，該設備在性能上有了進一步的提高，無論采用怎樣的...
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詳細摘要： JEM-F200 場發(fā)射透射電子顯微鏡以節(jié)能環(huán)保、減排低碳為理念開發(fā)的JEM-F200場發(fā)射透射電子顯微鏡，不僅提高了空間分辨率和分析性能，還采用了新的操作系統(tǒng)...
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詳細摘要： JEM-Z200FSC 場發(fā)射冷凍電子顯微鏡場發(fā)射冷凍電子顯微鏡 JEM-Z200FSC CRYO ARM 200標配冷場發(fā)射電子槍、柱體內能量過濾器（Ω能量過...
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詳細摘要： JEM-Z300FSC 場發(fā)射冷凍電子顯微鏡場發(fā)射冷凍電子顯微鏡JEM-Z300FSC (CRYO ARM? 300)配備了冷場發(fā)射電子槍、柱體內能量過濾器(Ω...
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詳細摘要： 日本JEOL 場發(fā)射透射電子顯微鏡JEM-3200FSJEM-3200FS場發(fā)射電子顯微鏡配備了高加速電壓為300kV的場發(fā)射電子槍（FEG）和鏡筒內置式Ω型能...
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詳細摘要： 日本電子JEM-1000 超高壓透射電子顯微鏡由于超高壓透射電子顯微鏡的加速電壓很高電子波長很短，即使增大物鏡極靴之間的間隙，也能獲得高分辨率的圖像。此外，電子...
產(chǎn)品型號：所在地：廣州市更新時間：2023-04-13 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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