廣州市君翔自動(dòng)化控制設(shè)備有限公司
| 參 考 價(jià) | 面議 |
產(chǎn)品型號(hào)
品 牌
廠商性質(zhì)其他
所 在 地廣州市
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更新時(shí)間:2026-08-11 07:55:54瀏覽次數(shù):280次
聯(lián)系我時(shí),請(qǐng)告知來自 儀表網(wǎng)AFM5500M專用原子力顯微鏡工作站選配項(xiàng):SEM-AFM聯(lián)用系統(tǒng)大范圍水平掃描采用管型掃描器的原子力顯微鏡,針對(duì)掃描器圓弧運(yùn)動(dòng)所產(chǎn)生的曲面,通常通過軟件校正方式獲得平面數(shù)據(jù)
AFM5500M是操作性和測(cè)量精度大幅提高,配備4英寸自動(dòng)馬達(dá)臺(tái)的全自動(dòng)型原子力顯微鏡。設(shè)備在懸臂更換,激光對(duì)中,測(cè)試參數(shù)設(shè)置等環(huán)節(jié)上提供全自動(dòng)操作平臺(tái)。新開發(fā)的高精度掃描器和低噪音3軸感應(yīng)器使測(cè)量精度大幅提高。并且,通過SEM-AFM共享坐標(biāo)樣品臺(tái)可輕松實(shí)現(xiàn)同一視野的相互觀察?分析。
參數(shù)規(guī)格:
AFM5500M 主機(jī)
| 馬達(dá)臺(tái) | 自動(dòng)精密馬達(dá)臺(tái) **觀察范圍:100 mm (4英寸)全域 馬達(dá)臺(tái)移動(dòng)范圍:XY ± 50 mm、Z ≥21 mm 最小步距:XY 2 µm、Z 0.04 µm |
|---|---|
| **樣品尺寸 | 直徑:100 mm(4英寸)、厚度:20 mm 樣品重量:2 kg |
| 掃描范圍 | 200 µm x 200 µm x 15 µm (XY:閉環(huán)控制 / Z:感應(yīng)器監(jiān)控) |
| RMS噪音水平* | 0.04 nm 以下(高分辨率模式) |
| 復(fù)位精度* | XY: ≤15 nm(3σ、計(jì)量10 μm的標(biāo)準(zhǔn)間距) / Z: ≤1 nm (3σ、計(jì)量100 nm 的標(biāo)準(zhǔn)深度) |
| XY直角度 | ±0.5° |
| BOW* | 2 nm/50 µm 以下 |
| 檢測(cè)方式 | 激光檢測(cè)(低干涉光學(xué)系統(tǒng)) |
| 光學(xué)顯微鏡 | 放大倍率:x1 ~ x7 視野范圍:910 µm x 650 µm ~ 130 µm x 90 µm 顯示倍率:x465 ~ x3,255(27英寸顯示器) |
| 減震臺(tái) | 臺(tái)式主動(dòng)減震臺(tái) 500 mm(W) x 600 mm (D) x 84 mm (H)、約28 kg |
| 防音罩 | 750 mm(W) x 877 mm (D) x 1400 mm(H)、 約 237 kg |
| 大小?重量 | 400 mm(W) x 526 mm(D) x 550 mm(H)、約 90 kg |
* 參數(shù)與設(shè)備配置及放置環(huán)境相關(guān)。
| OS | Windows7 |
|---|---|
| RealTune®II | 自動(dòng)調(diào)節(jié)懸臂振幅、接觸力、掃描速率以及信號(hào)反饋 |
| 操作畫面 | 操作導(dǎo)航功能、多窗口顯示功能(測(cè)試/分析)、3D圖像疊加功能、掃描范圍/測(cè)量履歷顯示功能、數(shù)據(jù)批處理分析功能、探針評(píng)估功能 |
| X, Y, Z掃描驅(qū)動(dòng)電壓 | 0~150 V |
| 時(shí)時(shí)測(cè)試(像素點(diǎn)) | 4畫面(**2,048 x 2,048) 2畫面(**4,096 x 4,096) |
| 長(zhǎng)方形掃描 | 2:1、4:1、8:1、16:1、32:1、64:1、128:1、256:1、512:1、1,024:1 |
| 分析軟件 | 3D顯示功能、粗糙度分析、截面分析、平均截面分析 |
| 自動(dòng)控制功能 | 自動(dòng)更換懸臂、自動(dòng)激光對(duì)中 |
| 大小?重量 | 340 mm(W) x 503 mm(D) x 550 mm(H)、約 34 kg |
| 電源 | AC100 ~ 240 V ±10% 交流 |
| 測(cè)試模式 | 標(biāo)配:AFM、DFM、PM(相位)、FFM 選配:SIS形貌、SIS物理特性、LM-FFM、VE-AFM、Adhesion、Current、Pico-Current、SSRM、PRM、KFM、EFM(AC)、EFM(DC)、MFM |
* WINDOWS 是、美國(guó) Microsoft Corporation 在美國(guó)及美國(guó)以外國(guó)家注冊(cè)商標(biāo)。
* RealTune是日立高新科學(xué)公司在日本、美國(guó)以及歐洲的注冊(cè)商標(biāo)。
| 可適用的日立SEM型號(hào) | SU8240、SU8230(H36 mm型)、SU8220(H29 mm型) |
|---|---|
| 樣品臺(tái)大小 | 41 mm(W) x 28 mm(D) x 16 mm (H) |
| **樣品尺寸 | Φ20 mm x 7 mm |
| 對(duì)中精度 | ±10 µm (AFM對(duì)中精度) |
產(chǎn)品特點(diǎn):
降低檢測(cè)中的人為操作誤差


Sample :Amorphous silicon thin film on a silicon substrate

Sample : Textured-structure solar battery(having symmetrical structure due to its crystal orientation.)
* 使用AFM5100N(開環(huán)控制)時(shí)
通過SEM-AFM的共享坐標(biāo)樣品臺(tái),可實(shí)現(xiàn)在同一視野快速的觀察?分析樣品的表面形貌,結(jié)構(gòu),成分,物理特性等。


The ovrlay images createed by using AZblend Ver.2.1, ASTRON Inc.
上圖是AFM5500M拍攝的形狀像(AFM像)和電位像(KFM像)分別和SEM圖像疊加的應(yīng)用數(shù)據(jù)。
石墨烯層數(shù)不同導(dǎo)致表面電位(功函數(shù))的反差。
今后計(jì)劃與其他顯微鏡以及分析儀器的聯(lián)用。
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主營(yíng)產(chǎn)品:島津熒光分光光度計(jì)
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