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ICS GPIB轉(zhuǎn)換卡 GPIB數(shù)字接口轉(zhuǎn)換簡介：ICS的所有GPIB控制器和驅(qū)動程序都符合IEEE-488.2標(biāo)準(zhǔn)，并且與HP-IB兼容。GPIB總線接口、擴(kuò)...
三華科技（Sapphire）高壓差分探頭簡單簡介：SI9010高壓差分探頭70MHz頻寬,1:100/1000衰減,*大測試電壓 +/-700V(DC+Peak...
Langer射頻耦合套組（IC測試系統(tǒng)）P501/P503 set介紹：使用 Langer EMV-Technology 的探針測量的優(yōu)勢在使用 P500系列(...
Langer前置放大器PA 203 set介紹：為了放大測量信號和保護(hù)您的測量接收器，我們建議在適當(dāng)?shù)念l率范圍內(nèi)使用前置放大器。前置放大器PA 203用于放大測...
Langer靜電放電耦合套組（IC測試系統(tǒng)）P331 L-ESD set介紹：Langer靜電放電耦合探頭組中包含的場源產(chǎn)生快速電場的和磁場的靜電放電脈沖場（2...
Langer靜電放電耦合套組（IC測試系統(tǒng)）P331-2 set介紹：Langer靜電放電耦合探頭組中包含的場源產(chǎn)生快速電場的和磁場的靜電放電脈沖場（200 p...
Langer電快速瞬變脈沖群磁場源組H5-IC set介紹：BS 06DB-s 型磁場源耦合電快速瞬變脈沖磁場（脈沖形狀依據(jù)IEC 61000-4-4）和集成電...
Langer電快速瞬變脈沖群磁場源組H4-IC set介紹：BS 06DB-s型磁場源用于生成電快速瞬變脈沖群磁場。通過一根高壓電纜和電快速瞬變脈沖群發(fā)生器（I...
Langer電快速瞬變脈沖群場耦合P1202-4/P1302-4介紹：電快速瞬變脈沖群場耦合探頭組中包含的場源產(chǎn)生電場的和磁場的電快速瞬變脈沖群場。這些場可以確...
Langer電快速瞬變脈沖耦合套組P250介紹：P250型EFT耦合網(wǎng)絡(luò)按照IED 62215-3標(biāo)準(zhǔn)在集成電路進(jìn)行脈沖群耦合。P250與脈沖群發(fā)生器（IEC ...
Langer電快速瞬變脈沖耦合套組P202/P302介紹：這組試樣用于確定強(qiáng)電流高電壓下的集成電路的抗脈沖干擾性。與P211和P311相比，這組試樣會產(chǎn)生更強(qiáng)的...
Langer干擾發(fā)射探頭套組P1602/P1702介紹：P1602/P1702的測量確保了測量的高重復(fù)性和可比性?？梢允褂?ChipScan-ESA 軟件進(jìn)行測...
Langer干擾發(fā)射探頭套組P1601/P1702介紹：P1601/P1702的測量確保了測量的高重復(fù)性和可比性?？梢允褂?ChipScan-ESA 軟件進(jìn)行測...
Langer干擾發(fā)射探頭套組S603/S750介紹：S603/S750的測量確保了測量的高重復(fù)性和可比性?？梢允褂?ChipScan-ESA 軟件進(jìn)行測量。利用...
Langer干擾發(fā)射探頭套組P603/P750介紹：使用探針組進(jìn)行的測量保證了重復(fù)測量時的高精度和測量的可比性。Langer EMV Technik的ICE1 ...
Langer干擾發(fā)射探頭套組（IC測試系統(tǒng)）P603-1/P750介紹：該探頭套組用于測量IC引腳的傳導(dǎo)發(fā)射（采用1歐姆/150歐姆直接耦合進(jìn)行測量）。它基于I...
Langer集成電路測試系統(tǒng)套件（IC測試系統(tǒng)）ICE1介紹：測試IC安裝在測試PC板上。PC板插入GND 25接地板并通過連接到CB 0708連接板的連接器。...
Langer光信號傳輸-數(shù)字信號OSE 450把受干擾的受測物發(fā)出的數(shù)字信號傳到示波器。它有四個單獨(dú)的傳感器，分別用于檢測受測物中的四種數(shù)字信號。它通過四根光纖...
Langer光信號傳輸-數(shù)字信號OSE 150-2在EFT/爆沖干擾影響下的數(shù)字信號，可以借助OSE 150-2零電勢地顯示到示波器上。OSE 150-2能夠快...
Langer光信號傳輸-數(shù)字信號OSE 150-1把受EFT/爆沖干擾影響的受測物發(fā)出的數(shù)字信號傳到示波器。該探頭包含一個傳感器，檢測邏輯信號并把邏輯信號轉(zhuǎn)化為...
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