廣東艾迪神電力科技有限公司
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更新時間:2023-06-28 08:37:20瀏覽次數(shù):265次
聯(lián)系我時,請告知來自 儀表網(wǎng)概述高電壓、強電場作用下,高壓線路及裝備中絕緣性能薄弱的部分會發(fā)生局部放電,當線路上局部電場強度大于氣體電離強度時,會產(chǎn)生電暈放電,同時輻射出光波、聲波,產(chǎn)生熱量,還有臭氧、紫外線、硝酸等,局部放電的檢測和評價已就成為電力線路絕緣狀況檢測的重要手段

概述
高電壓、強電場作用下,高壓線路及裝備中絕緣性能薄弱的部分會發(fā)生局部放電,當線路上局部電場強度大于氣體電離強度時,會產(chǎn)生電暈放電,同時輻射出光波、聲波,產(chǎn)生熱量,還有臭氧、紫外線、硝酸等,局部放電的檢測和評價已就成為電力線路絕緣狀況檢測的重要手段。
電暈放電會消損電能,據(jù)不統(tǒng)計,我國每年因為電暈放電而消損的電能可達到20.5億kW.H;電暈放電同時會產(chǎn)生*的脈沖電磁波,對無線電和高頻通信產(chǎn)生巨大干擾;而且,電暈放電會導致表面發(fā)生腐蝕,加速絕緣老化,降低絕緣性能及其使用壽命,危害巨大。
目前,電暈放電檢測技術(shù)主要有目視觀察法、紅外熱成像技術(shù)、超聲探測技術(shù)和紫外成像技術(shù)等。電暈放電目標小、強度弱,目視法很難觀察到;太陽光中含有很強的紅外線,用紅外熱成像技術(shù)觀察誤檢率較高,且紅外熱成像技術(shù)檢測電暈放電時響應(yīng)速度慢;超聲探測技術(shù)能夠定位放電源,但其靈敏度不高且很難對放電性質(zhì)和放電強度進行判斷,且由于聲波在傳播途徑中衰減、畸變嚴重,所以聲測法基本不能反映放電量的大??;紫外成像技術(shù)具有不接觸、不受高頻干擾影響、靈敏度高、超前預警等特點,圖像直觀、工作方便、離線觀察、全天候、便于攜帶,非常適合巡檢和航拍,已成為電暈放電檢測技術(shù)和絕緣性能評價的重點研究方向。
表1電暈探測技術(shù)性能比較總表
工作原理
高壓設(shè)備電離放電時,電子釋放能量,會同時輻射出光波和聲波,還有臭氧、紫外線、微量的硝酸等。日盲紫外成像技術(shù)探測電暈放電產(chǎn)生的紫外信號,經(jīng)處理后與可見光圖像疊加,確定電暈位置和強度,為評價設(shè)備運行情況提供依據(jù),其示意圖如圖1所示。
圖1 紫外線成儀儀結(jié)構(gòu)示意圖
紫外線波長范圍是100nm~400nm,太陽光中雖含紫外線,但由于地球臭氧層吸收了部分波長紫外線,輻射到地面的太陽紫外線波長大都在280nm以上,低于280nm的波長區(qū)間稱為“太陽盲區(qū)"??諝庵械牡獨怆婋x時產(chǎn)生紫外線光譜波長大部分在280nm~400nm的區(qū)域內(nèi),很小一部分波長小于280nm。因此,若能探測到太陽盲區(qū)內(nèi)的紫外光,只可能是來自地球上的輻射。
采用特定紫外探測組件,可利用太陽盲區(qū),使其工作在紫外波長200nm~280nm之間,而對其他頻譜不敏感,從而去除可見光源的干擾。日盲紫外探測系統(tǒng)就是避開自然光背景,不受環(huán)境輻射影響,全天時、全天候工作,為電暈放電檢測提供高效手段。此外,大氣壓下,電壓增加,電暈放電光譜紫外區(qū)輻射增加,當氣隙變長時,則紫外輻射減弱;紅外光譜則相反,外加電壓低、氣隙較長時紅外光譜更強;可見光區(qū)域?qū)ν饧与妷汉蜌庀堕L度較不敏感。因此,對高壓設(shè)備的氣體放電檢測,紫外光作為檢測信號也比可見光和紅外線更加靈敏。
產(chǎn)品特點
該產(chǎn)品定位于高壓設(shè)備電暈監(jiān)測,主要優(yōu)點如下技術(shù)參數(shù)
紫外CCD成像技術(shù)
電暈放電所產(chǎn)生的為nW級紫外光輻射信號,必須使用紫外增強CCD成像技術(shù)對信號進行有效的探測。紫外光子照射到光電陰極上,按一定的量子轉(zhuǎn)換效率轉(zhuǎn)化為光電子,在加速電場的作用下光電子進入MCP 進行倍增,然后聚焦到熒光屏激發(fā)出可見光,通過光錐將圖像耦合到可見光CCD 上,最后由電子線路讀出,完成從入射光到電子圖像的轉(zhuǎn)換,從而獲得了紫外圖像信息。
通過和紫外圖像進行配準融合,既保證了紫外信號質(zhì)量,又保留了背景信號信息,兩路圖像經(jīng)融合后,既能檢測電暈也能清楚地顯示放電點的位置
紫外光子計數(shù)技術(shù)
紫外成像儀在現(xiàn)場進行電暈放電檢測的過程中,通過選定的范圍,根據(jù)所顯示的單位時間內(nèi)紫外光子數(shù)對電暈放電強度進行量化的。可以實時統(tǒng)計單位時間內(nèi)目標電暈發(fā)生時,帶電粒子電離和復合過程中所發(fā)出的紫外光子,并以此為參量表征電暈放電的強度。
自動調(diào)焦技術(shù)
先任意采集一幅圖像,計算其熵值,然后使步進電機正向前進若干步,再次計算熵值。比較兩次的熵值大小,如后一次的值比前一次的小,則電機前進,反之,則后退;當電機停止后,再先后記錄兩次圖像的熵值,比較其大小,如后一次的值仍比前一次的小,電機繼續(xù)前進,反之則繼續(xù)后退;直到測得后一次的值比前一次的大,電機反轉(zhuǎn),同時縮小前進的步數(shù),即縮小調(diào)焦范圍;依次循環(huán)若干次后,判斷此時先后采集的兩幅圖像的熵值差的值是否小于 設(shè)定值。如果小于,退出自動調(diào)焦程序,調(diào)焦完成,否則繼續(xù)循壞,進行判定,直到判定到清晰圖像為止。
“日盲"技術(shù)
由于臭氧層的吸收作用,接近地球表面的太陽輻射波長均在290納米以上。具有截止波長少于280納米的紫外線探測器統(tǒng)稱為日盲紫外探測器。項目產(chǎn)品可以探測到240-280nm的微弱電暈輻射,不受環(huán)境的陽光的影響,在白天黑夜都可以進行檢測。
通過光子計數(shù)判斷設(shè)備狀況
光子計數(shù)量化可實時顯示單位時間內(nèi)設(shè)備電暈發(fā)生時所產(chǎn)生的紫外光子,并以此為參量表征電暈放電的強度,在大量的電力設(shè)備檢測數(shù)據(jù)分析和搜集基礎(chǔ)上,我們根據(jù)每分鐘輻射電子數(shù)量進行分類,將光子數(shù)的強度分為3個等級:高度集中、中度集中、輕度集中,通過光子計數(shù)判斷設(shè)備故障情況。
光學和電子學結(jié)合的圖像配準技術(shù)
光學設(shè)計,采用雙光路結(jié)構(gòu),設(shè)計紫外和可見兩套光路,通過反射鏡組共享同一視場。通過調(diào)整反射鏡組以及可見光鏡頭調(diào)焦來確保紫外成像探測與可見光成像探測在同一視場、同一光路下觀測目標物,這種結(jié)構(gòu)還是存在固有的結(jié)構(gòu)性視差,再通過圖像倍率調(diào)整,數(shù)字位移配準,實現(xiàn)兩路成像的精確配準。
尺寸圖
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