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美國solar Metrology 太陽能薄膜電池CIS, CIGS, CIGSSe and CdTe厚度測量儀【：】
美國Matrix Metrology品牌手提式X射線鍍層測厚儀，型號：HMX，銷售：
美國solar Metrology 太陽能薄膜電池CIS, CIGS, CIGSSe and CdTe厚度測量儀(：１３７０１６００７６７)
美國Calmetrics膜厚儀標(biāo)準(zhǔn)片Calibration Standard【請直接：】
【：】 日本精工SII SFT-157 x射線熒光鍍層測厚儀（二手）翻新
roentgenanalytik品牌 gold check金測儀器-快速，非破壞性，高精度的貴金屬珠寶成品測量儀，可直接得出開金(Karat)值。一款短期內(nèi)便能...
：丁成峰 /【: 】
：丁成峰
Compact eco X-射線熒光分析測厚儀能提供一般鍍層厚度和元素分析功能,不單性能*,而且價錢*.,分析鍍層厚度和元素成色同時進行,只需數(shù)秒鐘,便能非破壞...
：丁成峰
X-射線金屬鍍層測厚儀 世界*光學(xué)準(zhǔn)直器，光束zui少可達0。025mm 集中X-射線光束，強度加強5-8倍適合較薄鍍層測量，測量時間為正常的1/5 配有ZOO...
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