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2024
06-05微觀特征輪廓尺寸測量：光學3D輪廓儀、共焦顯微鏡與臺階儀的應用
隨著科技進步，顯微測量儀器以滿足日益增長的微觀尺寸測量需求而不斷發(fā)展進步。多種高精度測量儀器被用于微觀尺寸的測量，其中包括光學3D表面輪廓儀（白光干涉儀）、共聚焦顯微鏡和臺階儀。有效評估材料表面的微觀...2024
06-03WD4000系列晶圓幾何量測系統(tǒng)：全面支持半導體制造工藝量測，保障晶圓質量
晶圓面型參數厚度、TTV、BOW、Warp、表面粗糙度、膜厚、等是芯片制造工藝必須考慮的幾何形貌參數。其中TTV、BOW、Warp三個參數反映了半導體晶圓的平面度和厚度均勻性，對于芯片制造過程中的多個...2024
05-292024
05-282024
05-28從0.1nm到1mm：顯微測量儀在拋光至粗糙表面測量中的技術突破
顯微測量儀是納米級精度的表面粗糙度測量技術。它利用光學、電子或機械原理對微小尺寸或表面特征進行測量，能夠提供納米級甚至更高級別的測量精度，這對于許多科學和工業(yè)應用至關重要。在拋光至粗糙表面測量中，中圖...2024
05-272024
05-27雙頻激光干涉儀的光學系統(tǒng)如何實現(xiàn)高精度？
雙頻激光干涉儀是一種高精度的測量設備，其光學系統(tǒng)的設計和配置對于實現(xiàn)高精度測量至關重要。它的光學系統(tǒng)通過精心設計和選用高精度的光學元件，實現(xiàn)了高精度的測量能力。這對于保證機床、精密機械等設備的高精度和...2024
05-232024
05-142024
05-14顯微成像與精密測量：共聚焦、光學顯微鏡與測量顯微鏡的區(qū)分
共聚焦顯微鏡介紹共聚焦顯微鏡是一種光學顯微鏡。它結合了光學成像技術和計算機處理，能夠提供高分辨率的二維圖像以及三維圖像重構。共聚焦顯微鏡的工作原理基于“共聚焦”概念，即只有處于物鏡焦平面上的點才能清晰...2024
05-132024
05-132024
05-072024
05-072024
05-062024
04-262024
04-252024
04-252024
04-242024
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