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產(chǎn)品分類品牌

晶圓硅片表面3D量測系統(tǒng) 參考價(jià)： ￥3000000

參考價(jià)： 3000000 型號：WD4000
WD4000晶圓硅片表面3D量測系統(tǒng)采用光學(xué)白光干涉技術(shù)、精密 Z 向掃描模塊和高精度 3D 重建算法，Z 向分辨率最高可到 0. 1nm。它通過非接觸測量，將...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

晶圓量測系統(tǒng)無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)硅片量測系統(tǒng)晶圓測量系統(tǒng)晶圓檢測設(shè)備

2026/9/16 21:03:301490
晶圓制程幾何尺寸量測設(shè)備參考價(jià)： ￥3000000

參考價(jià)： 3000000 型號：WD4000
WD4000晶圓制程幾何尺寸量測設(shè)備通過非接觸測量，將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建，*的測量分析軟件穩(wěn)定計(jì)算晶圓厚度，TTV，BOW、WARP、在高效測量測同時(shí)有效防...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)晶圓量測設(shè)備晶圓幾何量測設(shè)備半導(dǎo)體晶圓測量晶圓測量設(shè)備

2026/9/16 20:27:401354
半導(dǎo)體晶圓幾何形貌量測設(shè)備參考價(jià)： ￥3000000

參考價(jià)： 3000000 型號：WD4000
中圖儀器WD4000半導(dǎo)體晶圓幾何形貌量測設(shè)備兼容不同材質(zhì)不同粗糙度、可測量大翹曲wafer、測量晶圓雙面數(shù)據(jù)更準(zhǔn)確。它通過非接觸測量，將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

晶圓幾何量測設(shè)備晶圓形貌量測設(shè)備半導(dǎo)體晶圓量測無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)晶圓檢測設(shè)備

2026/9/16 19:35:381455
晶圓表面粗糙度測量儀器參考價(jià)： ￥3000000

參考價(jià)： 3000000 型號：WD4000
中圖儀器WD4000晶圓表面粗糙度測量儀器兼容不同材質(zhì)不同粗糙度、可測量大翹曲wafer、測量晶圓雙面數(shù)據(jù)更準(zhǔn)確。它采用白光光譜共焦多傳感器和白光干涉顯微測量雙...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

晶圓粗糙度測量儀晶圓表面測量儀無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)晶圓形貌測量儀器半導(dǎo)體晶圓測量儀

2026/9/16 18:58:461585
半導(dǎo)體晶圓量測設(shè)備參考價(jià)： ￥3000000

參考價(jià)： 3000000 型號：WD4000
WD4000半導(dǎo)體晶圓量測設(shè)備兼容不同材質(zhì)不同粗糙度、可測量大翹曲wafer、測量晶圓雙面數(shù)據(jù)更準(zhǔn)確。自動(dòng)測量Wafer厚度、表面粗糙度、三維形貌、單層膜厚、多...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)半導(dǎo)體量測設(shè)備晶圓檢測設(shè)備晶圓形貌測量設(shè)備晶圓測量設(shè)備

2026/9/16 18:33:211655
晶圓幾何形貌測量及參數(shù)自動(dòng)檢測機(jī) 參考價(jià)： ￥3000000

參考價(jià)： 3000000 型號：WD4000系列
WD4000晶圓幾何形貌測量及參數(shù)自動(dòng)檢測機(jī)采用高精度光譜共焦傳感技術(shù)、光干涉雙向掃描技術(shù)，完成非接觸式掃描并建立3D Mapping圖，實(shí)現(xiàn)晶圓厚度、TTV、...
型號： WD4000系列品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

晶圓幾何測量機(jī)晶圓形貌測量機(jī)無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)晶圓形貌測量系統(tǒng)晶圓形貌檢測機(jī)

2026/9/16 18:10:321684
無圖晶圓厚度翹曲度測量設(shè)備參考價(jià)： ￥3000000

參考價(jià)： 3000000 型號：WD4000
WD4000無圖晶圓厚度翹曲度測量設(shè)備兼容不同材質(zhì)不同粗糙度、可測量大翹曲wafer、測量晶圓雙面數(shù)據(jù)更準(zhǔn)確。它可實(shí)現(xiàn)砷化鎵、氮化鎵、磷化鎵、鍺、磷化銦、鈮酸鋰...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

無圖晶圓幾何量測設(shè)備晶圓厚度測量設(shè)備晶圓翹曲度測量設(shè)備晶圓測量設(shè)備晶圓形貌測量設(shè)備

2026/9/16 17:26:191442
晶圓厚度翹曲度測量系統(tǒng) 參考價(jià)： ￥3000000

參考價(jià)： 3000000 型號：WD4000
WD4000晶圓厚度翹曲度測量系統(tǒng)通過非接觸測量，將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建，在高效測量測同時(shí)有效防止晶圓產(chǎn)生劃痕缺陷。它采用高精度光譜共焦傳感技術(shù)、光干涉雙向掃...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

晶圓測量系統(tǒng)晶圓厚度測量系統(tǒng)晶圓翹曲度測量系統(tǒng)無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)晶圓形貌測量系統(tǒng)

2026/9/16 16:50:231175
晶圓多維度特征檢測設(shè)備參考價(jià)： ￥3000000

參考價(jià)： 3000000 型號：WD4000
WD4000晶圓多維度特征檢測設(shè)備系統(tǒng)自動(dòng)測量 Wafer 厚度、表面粗糙度、三維形貌、單層膜厚、多層膜厚?？蓪?shí)現(xiàn)砷化鎵、氮化鎵、磷化鎵、鍺、磷化銦、鈮酸鋰、藍(lán)...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

晶圓檢測設(shè)備無圖晶圓幾何檢測設(shè)備晶圓量測設(shè)備晶圓形貌測量設(shè)備晶圓幾何形貌檢測設(shè)備

2026/9/16 16:21:011215
半導(dǎo)體晶圓厚度高精度測量系統(tǒng) 參考價(jià)： ￥3000000

參考價(jià)： 3000000 型號：WD4000
WD4000系列半導(dǎo)體晶圓厚度高精度測量系統(tǒng)通過非接觸測量，將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建，*的測量分析軟件穩(wěn)定計(jì)算晶圓厚度，TTV，BOW、WARP、在高效測量測同...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

晶圓測量系統(tǒng)晶圓厚度測量系統(tǒng)無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)晶圓形貌測量系統(tǒng)晶圓幾何量測系統(tǒng)

2026/9/16 15:48:521236
晶圓厚度表面粗糙度微納三維形貌量測系統(tǒng) 參考價(jià)：面議

參考價(jià)：面議型號：WD4000
WD4000晶圓厚度表面粗糙度微納三維形貌量測系統(tǒng)采用高精度光譜共焦傳感技術(shù)、光干涉雙向掃描技術(shù)，完成非接觸式掃描并建立3D Mapping圖，實(shí)現(xiàn)晶圓厚度、T...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

晶圓厚度量測系統(tǒng)晶圓粗糙度量測系統(tǒng)晶圓形貌量測系統(tǒng)無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)半導(dǎo)體晶圓檢測機(jī)

2026/9/16 14:16:271185
半導(dǎo)體晶圓粗糙度翹曲度檢測設(shè)備參考價(jià)：面議

參考價(jià)：面議型號：WD4000
WD4000半導(dǎo)體晶圓粗糙度翹曲度檢測設(shè)備采用白光光譜共焦多傳感器和白光干涉顯微測量雙向掃描技術(shù)，完成非接觸式掃描并建立表面3D層析圖像，實(shí)現(xiàn)Wafer厚度、翹...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

晶圓檢測設(shè)備半導(dǎo)體晶圓檢測晶圓粗糙度檢測設(shè)備晶圓翹曲度檢測設(shè)備晶圓幾何量測系統(tǒng)

2026/9/16 13:35:081396
國產(chǎn)半導(dǎo)體晶圓表面形貌測量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議

參考價(jià)：面議型號：WD4000
WD4000國產(chǎn)半導(dǎo)體晶圓表面形貌測量系統(tǒng)兼容不同材質(zhì)不同粗糙度、可測量大翹曲wafer、測量晶圓雙面數(shù)據(jù)更準(zhǔn)確。它采用白光光譜共焦多傳感器和白光干涉顯微測量雙...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

半導(dǎo)體晶圓測量系統(tǒng)晶圓形貌測量系統(tǒng)無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)晶圓測量系統(tǒng)晶圓檢測設(shè)備

2026/9/16 12:45:271359
晶圓厚度翹曲度粗糙度檢測設(shè)備參考價(jià)：面議

參考價(jià)：面議型號：WD4000
WD4000晶圓厚度翹曲度粗糙度檢測設(shè)備采用白光光譜共焦多傳感器和白光干涉顯微測量雙向掃描技術(shù)，完成非接觸式掃描并建立表面3D層析圖像，實(shí)現(xiàn)Wafer厚度、翹曲...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

晶圓厚度檢測設(shè)備晶圓翹曲度檢測設(shè)備晶圓粗糙度檢測設(shè)備晶圓檢測設(shè)備無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)

2026/9/16 12:03:201546
半導(dǎo)體晶圓Warp翹曲度量測設(shè)備參考價(jià)：面議

參考價(jià)：面議型號：WD4000
WD4000半導(dǎo)體晶圓Warp翹曲度量測設(shè)備通過非接觸測量，將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建，*的測量分析軟件穩(wěn)定計(jì)算晶圓厚度，TTV，BOW、WARP、在高效測量測同...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

半導(dǎo)體晶圓量測設(shè)備晶圓翹曲度量測設(shè)備晶圓Warp量測設(shè)備無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)晶圓形貌量測系統(tǒng)

2026/9/16 11:41:441363
晶圓幾何形貌檢測機(jī) 參考價(jià)：面議

參考價(jià)：面議型號：WD4000
WD4000晶圓幾何形貌檢測機(jī)可測各類包括從光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級別工件的厚度、粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。自動(dòng)測量...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

半導(dǎo)體晶圓檢測晶圓檢測機(jī)晶圓檢測設(shè)備無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)晶圓幾何形貌測量機(jī)

2026/9/16 11:10:111374
晶圓厚度Warp檢測設(shè)備參考價(jià)：面議

參考價(jià)：面議型號：WD4000系列
WD4000晶圓厚度Warp檢測設(shè)備自動(dòng)測量 Wafer 厚度、表面粗糙度、三維形貌、單層膜厚、多層膜厚。使用光譜共焦對射技術(shù)測量晶圓 Thickness、TT...
型號： WD4000系列品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

半導(dǎo)體晶圓檢測設(shè)備晶圓厚度檢測設(shè)備晶圓Warp檢測設(shè)備無圖晶圓幾何量測設(shè)備晶圓形貌檢測設(shè)備

2026/9/16 10:30:581514
WD4000無圖晶圓形貌檢測設(shè)備參考價(jià)：面議

參考價(jià)：面議型號：WD4000系列
WD4000無圖晶圓形貌檢測設(shè)備兼容不同材質(zhì)不同粗糙度、可測量大翹曲wafer、測量晶圓雙面數(shù)據(jù)更準(zhǔn)確?？蓪?shí)現(xiàn)砷化鎵、氮化鎵、磷化鎵、鍺、磷化銦、鈮酸鋰、藍(lán)寶石...
型號： WD4000系列品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

半導(dǎo)體晶圓檢測晶圓形貌檢測設(shè)備廠家晶圓檢測儀晶圓外觀檢測設(shè)備無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)

2026/9/16 9:57:521068
晶圓幾何量測機(jī) 參考價(jià)：面議

參考價(jià)：面議型號：WD4000
WD4000晶圓幾何量測機(jī)通過非接觸測量，將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建，*的測量分析軟件穩(wěn)定計(jì)算晶圓厚度，TTV，BOW、WARP、在高效測量測同時(shí)有效防止晶圓產(chǎn)生...
型號： WD4000 品牌：其他品牌所在地：深圳市 對比

無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)晶圓幾何量測設(shè)備晶圓幾何形貌測量機(jī)晶圓檢測設(shè)備半導(dǎo)體晶圓量測機(jī)

2026/9/16 9:26:081072
無圖晶圓三維形貌測量儀參考價(jià)：面議

參考價(jià)：面議型號：WD4000
中圖儀器WD4000無圖晶圓三維形貌測量儀可實(shí)現(xiàn)砷化鎵、氮化鎵、磷化鎵、鍺、磷化銦、鈮酸鋰、藍(lán)寶石、硅、碳化硅、玻璃不同材質(zhì)晶圓的量測。它通過非接觸測量，將晶圓...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)晶圓三維形貌測量儀晶圓形貌測量設(shè)備晶圓檢測設(shè)備無圖晶圓形貌測量儀

2026/9/16 8:14:531149
半導(dǎo)體晶圓形貌檢測設(shè)備參考價(jià)：面議

參考價(jià)：面議型號：WD4000
中圖儀器WD4000半導(dǎo)體晶圓形貌檢測設(shè)備采用高精度光譜共焦傳感技術(shù)、光干涉雙向掃描技術(shù)，完成非接觸式掃描并建立3D Mapping圖，通過非接觸測量，將晶圓的...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)晶圓幾何量測設(shè)備晶圓檢測設(shè)備晶圓形貌測量設(shè)備半導(dǎo)體檢測設(shè)備

2026/9/16 7:39:241364
晶圓翹曲度測試設(shè)備參考價(jià)：面議

參考價(jià)：面議型號：WD4000
WD4000晶圓翹曲度測試設(shè)備兼容不同材質(zhì)不同粗糙度、可測量大翹曲wafer、測量晶圓雙面數(shù)據(jù)更準(zhǔn)確。它采用白光光譜共焦多傳感器和白光干涉顯微測量雙向掃描技術(shù)，...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

晶圓測試設(shè)備晶圓翹曲度測試設(shè)備翹曲度檢測設(shè)備晶圓翹曲度測量設(shè)備晶圓幾何量測設(shè)備

2026/9/15 21:33:081610
半導(dǎo)體晶圓幾何量測設(shè)備參考價(jià)：面議

參考價(jià)：面議型號：WD4000
中圖儀器WD4000半導(dǎo)體晶圓幾何量測設(shè)備可實(shí)現(xiàn)砷化鎵、氮化鎵、磷化鎵、鍺、磷化銦、鈮酸鋰、藍(lán)寶石、硅、碳化硅、玻璃不同材質(zhì)晶圓的量測。通過非接觸測量，將晶圓的...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)晶圓幾何量測設(shè)備半導(dǎo)體晶圓量測設(shè)備晶圓幾何形貌量測設(shè)備晶圓形貌測量設(shè)備

2026/9/15 20:53:461076
晶圓形貌測量儀器參考價(jià)：面議

參考價(jià)：面議型號：WD4000
中圖儀器WD4000晶圓形貌測量儀器通過非接觸測量，將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建，*的測量分析軟件穩(wěn)定計(jì)算晶圓厚度，TTV，BOW、WARP、在高效測量測同時(shí)有效防...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)晶圓幾何形貌量測系統(tǒng)晶圓形貌測量設(shè)備半導(dǎo)體晶圓檢測晶圓形貌檢測

2026/9/15 20:28:251361

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深圳市中圖儀器股份有限公司

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