白光干涉儀|磨損瑕疵檢測(cè)，降低次品率！解決玻璃屏粗糙度與模具瑕疵檢測(cè)難題。

對(duì)于3C電子與光學(xué)加工行業(yè)而言，零部件表面的微小瑕疵可能導(dǎo)致嚴(yán)重的產(chǎn)品缺陷。SuperView W1系列是您品質(zhì)管控的得力助手。

1.3C電子玻璃屏：快速掃描玻璃表面，量化粗糙度數(shù)據(jù)，評(píng)估拋光工藝質(zhì)量 。

2.精密模具檢測(cè)：針對(duì)手機(jī)金屬殼等模具，精準(zhǔn)捕捉表面微小的磨損與瑕疵，提前預(yù)警，降低次品率。

3.光學(xué)元件：無論是超光滑透鏡還是微納光學(xué)結(jié)構(gòu)，W1都能提供非接觸式的高精度輪廓分析。

配合自動(dòng)拼接測(cè)量功能，即使是大尺寸的精密部件，也能一次性獲取完整的高精度3D數(shù)據(jù)。

技術(shù)參數(shù)

1.重復(fù)性：粗糙度RMS重復(fù)性可達(dá) 0.005nm（依據(jù)ISO 25178標(biāo)準(zhǔn)，測(cè)量Sa為0.2nm硅晶片）。

2.臺(tái)階測(cè)量精度：準(zhǔn)確度達(dá) 0.3%，重復(fù)性 0.08% (1σ)。

3.超高分辨率：Z向掃描范圍10mm，形貌重復(fù)性STR達(dá) 0.1nm。

4.氣浮隔振：標(biāo)配氣浮式隔振底座，有效隔離地面振動(dòng)噪聲，確保每一次微觀測(cè)量的精準(zhǔn) 。

用數(shù)據(jù)說話，為您的科研與生產(chǎn)提供最嚴(yán)謹(jǐn)?shù)臄?shù)據(jù)支撐。立即咨詢！獲取白光干涉儀|磨損瑕疵檢測(cè)，降低次品率！產(chǎn)品演示視頻。

注：產(chǎn)品參數(shù)與配置以實(shí)際交付為準(zhǔn)，中圖儀器保留根據(jù)技術(shù)升級(jí)調(diào)整相關(guān)內(nèi)容的權(quán)利，恕不另行通知。