中圖儀器SuperViewW白光干涉儀光學(xué)納米級表面檢測，一臺設(shè)備覆蓋微光學(xué)制造多類核心應(yīng)用場景，適配企業(yè)從研發(fā)到量產(chǎn)的全流程檢測需求，是光通信、微光學(xué)器件制造企業(yè)的質(zhì)檢裝備。如隨著AI算力需求激增，光模塊向800G、1.6T高速演進，這款設(shè)備可高效完成：

1.光通信光模塊微透鏡陣列檢測，把控核心曲率、面型誤差等參數(shù)，保障光耦合效率與信號穩(wěn)定性；

2.適配VCSEL光學(xué)耦合透鏡檢測，精準測量納米級幾何參數(shù)，避免光路偏移問題；

3.在消費電子領(lǐng)域，可實現(xiàn)AR/VR微光學(xué)器件的三維形貌檢測，滿足微光學(xué)元件的高精度質(zhì)控要求；

4.還能針對晶圓制造環(huán)節(jié)，完成晶圓級微透鏡陣列的批量檢測，即便晶圓上有數(shù)萬微透鏡單元，也能實現(xiàn)高效全覆蓋。

使用SuperViewW白光干涉儀光學(xué)納米級表面檢測，從采購到運維全流程為企業(yè)控成本、提效益，性價比優(yōu)勢突出！

1.采購成本看

該設(shè)備可一站式完成微透鏡陣列的曲率半徑、矢高、面型誤差、表面粗糙度等多參數(shù)檢測，一臺替代多款專用檢測設(shè)備，大幅降低企業(yè)初期設(shè)備投入，且無任何隱形消費，標配全套檢測與數(shù)據(jù)分析功能，無需額外采購模塊。

2.使用成本

· 非接觸式測量避免損傷微透鏡精密結(jié)構(gòu)，減少器件損耗帶來的成本浪費；

· 自動化批量檢測功能可實現(xiàn)數(shù)萬透鏡單元的無人值守檢測，大幅減少人工質(zhì)檢成本，提升檢測效率的同時降低人為誤差。

3.運維成本

· 設(shè)備結(jié)構(gòu)穩(wěn)定、核心部件耐用，后期維修保養(yǎng)成本低；

· 可適配光模塊800G、1.6T等技術(shù)升級后的檢測需求，無需頻繁更換設(shè)備，長期使用性價比更高，切實為微光學(xué)制造企業(yè)節(jié)省全生命周期成本。

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