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深圳市中圖儀器股份有限公司

PRODUCT DISPLAY

當(dāng)前位置:深圳市中圖儀器股份有限公司>>顯微測(cè)量?jī)x>>白光干涉儀>> SuperViewW1白光干涉3D輪廓儀

白光干涉3D輪廓儀

參  考  價(jià): ¥ 960000

訂  貨  量: ≥1 臺(tái)

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號(hào):SuperViewW1

品       牌:中圖儀器

廠商性質(zhì):生產(chǎn)商

所  在  地:深圳市

更新時(shí)間:2026-09-17 17:18:45瀏覽次數(shù):690次

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羅健

經(jīng)理
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產(chǎn)地 國產(chǎn) 加工定制 否
SuperViewW白光干涉3D輪廓儀基于白光干涉原理,以3D非接觸方式,測(cè)量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸。白光干涉儀的特殊光源模式,可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細(xì)器件表面的測(cè)量。

對(duì)于生產(chǎn)車間內(nèi)存在環(huán)境擾動(dòng)、樣件表面光學(xué)特性差異大的企業(yè),常規(guī)光學(xué)輪廓儀往往難以兼顧成像質(zhì)量與數(shù)據(jù)穩(wěn)定性。中圖儀器SuperViewW1系列白光干涉3D輪廓儀,專為復(fù)雜工業(yè)工況打造,是不同反射率光學(xué)輪廓儀選型中適配性強(qiáng)的落地方案。

在LED刻蝕、晶圓微結(jié)構(gòu)加工等場(chǎng)景中,設(shè)備可直接應(yīng)對(duì)高反光光滑薄膜與低反光粗糙刻蝕面并存的樣件,通過像素級(jí)多層干涉數(shù)據(jù)融合,自適應(yīng)調(diào)整信號(hào)增益,完整重構(gòu)刻蝕孔洞3D形貌,避免過曝與信號(hào)丟失;針對(duì)車間叉車通行、設(shè)備運(yùn)轉(zhuǎn)帶來的低頻振動(dòng),以及溫濕度波動(dòng)影響,設(shè)備內(nèi)置高靈敏度傳感矩陣,實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)并動(dòng)態(tài)補(bǔ)償環(huán)境擾動(dòng),從底層消除納米級(jí)數(shù)據(jù)基線漂移。


無需改造車間環(huán)境、無需專人反復(fù)調(diào)試設(shè)備,即可在產(chǎn)線旁完成高精度三維測(cè)量,尤其適合需要在工業(yè)現(xiàn)場(chǎng)開展快速檢測(cè)、工藝驗(yàn)證的企業(yè)使用。

中圖儀器SuperViewW1系列白光干涉3D輪廓儀,以扎實(shí)的技術(shù)參數(shù)支撐高精度三維形貌測(cè)量,是LED刻蝕表面三維測(cè)量、半導(dǎo)體薄膜檢測(cè)的可靠設(shè)備,核心性能指標(biāo)如下:

- 跨反射率成像能力:搭載EPSI復(fù)合掃描算法,可在單次掃描中自適應(yīng)調(diào)節(jié)不同區(qū)域信號(hào)增益,同步完成高反光介質(zhì)層與低反光刻蝕面的成像,無需手動(dòng)調(diào)節(jié)光源,可完整重構(gòu)刻蝕孔洞3D形貌。

- 環(huán)境抗擾性能:內(nèi)置千赫茲級(jí)高靈敏度環(huán)境傳感矩陣,配合閉環(huán)伺服補(bǔ)償算法,可實(shí)時(shí)屏蔽機(jī)械振動(dòng)、聲學(xué)擾動(dòng)與溫濕度波動(dòng)影響,消除納米級(jí)臺(tái)階高度環(huán)境漂移,在工業(yè)現(xiàn)場(chǎng)維持實(shí)驗(yàn)室級(jí)精度。

- 測(cè)量尺度覆蓋:可適配0.07μm超薄臺(tái)階至122μm大孔徑的全尺度微結(jié)構(gòu)檢測(cè),支持10X、50X等多種干涉物鏡切換,兼顧大面積陣列掃描與微孔精細(xì)表征。

- 數(shù)據(jù)可靠性:陣列測(cè)量離散度低,臺(tái)階高度檢測(cè)重復(fù)性好,可為工藝迭代提供穩(wěn)定可信的數(shù)據(jù)基線。


除了核心精度指標(biāo),SuperViewW1系列白光干涉儀在檢測(cè)效率與自動(dòng)化能力上同樣表現(xiàn)優(yōu)異,可適配研發(fā)與量產(chǎn)環(huán)節(jié)的高效檢測(cè)需求:

- 一鍵式掃描:EPSI復(fù)合算法支持自動(dòng)化參數(shù)匹配,無需人工反復(fù)調(diào)光試錯(cuò),單次掃描即可輸出完整3D形貌數(shù)據(jù),大幅降低操作門檻與單樣檢測(cè)時(shí)間。

- 批量統(tǒng)計(jì)能力:10X物鏡可一次性完成整片芯片多點(diǎn)掃描,自動(dòng)批量統(tǒng)計(jì)孔徑、臺(tái)階高度等參數(shù),無需人工逐點(diǎn)記錄,顯著提升陣列樣件的檢測(cè)效率。

- 環(huán)境自適應(yīng)能力:內(nèi)置環(huán)境噪聲監(jiān)測(cè)系統(tǒng)可實(shí)時(shí)動(dòng)態(tài)補(bǔ)償環(huán)境擾動(dòng),無需嚴(yán)格隔振環(huán)境,測(cè)量準(zhǔn)備周期短,可快速響應(yīng)產(chǎn)線抽檢需求。

- 數(shù)據(jù)輸出能力:可輸出精準(zhǔn)的臺(tái)階高度、孔徑尺寸、形貌偏差等多維度數(shù)據(jù),支持?jǐn)?shù)據(jù)報(bào)表自動(dòng)生成,直接對(duì)接工藝分析流程。

注:產(chǎn)品參數(shù)與服務(wù)可能根據(jù)技術(shù)升級(jí)實(shí)時(shí)更新,具體以新標(biāo)準(zhǔn)為準(zhǔn),詳情可咨詢客服獲取完整資料。


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