zeta電位測(cè)定儀是采用光子相關(guān)光譜法、電泳光散射以及FST技術(shù)來(lái)分析，并可測(cè)定固體以及高濃度懸浮液的zeta電位。該儀器采用了高靈敏度測(cè)量技術(shù)，可同時(shí)滿足低濃度和高濃度樣品納米粒度與zeta電位分析的要求?？捎糜跍y(cè)定分散體系顆粒物的固－液界面電性（ζ電位），也可用于測(cè)量乳狀液液滴的界面電性，也可用于測(cè)定等電點(diǎn)、研究界面反應(yīng)過(guò)程的機(jī)理。通過(guò)測(cè)定顆粒的Zeta電位，求出等電點(diǎn)，是認(rèn)識(shí)顆粒表面電性的重要方法，在顆粒表面處理中也是重要的手段。與國(guó)內(nèi)外其它同類型儀器相比，它具有顯著的性?？蓮V泛應(yīng)用于化妝品、選礦、造紙、醫(yī)療衛(wèi)生、建筑材料、超細(xì)材料、環(huán)境保護(hù)、海洋化學(xué)等行業(yè)，也是化學(xué)、化工、醫(yī)學(xué)、建材等專業(yè)的重要教學(xué)儀器之一。
zeta電位測(cè)定儀光學(xué)特點(diǎn)：
1.傳統(tǒng)測(cè)量原理：通過(guò)傳統(tǒng)微電泳方法測(cè)量膠體顆粒的zeta 電位。與激光光散射法相比，沒(méi)有黑盒子。
2.通過(guò)激光暗場(chǎng)照明觀察納米顆粒：502的*的超顯微鏡設(shè)計(jì)提供了一個(gè)高對(duì)比度的圖像，即使是納米粒子。依賴于顆粒對(duì)懸浮介質(zhì)的相對(duì)折射率不同，可測(cè)量小至20nm的顆粒。
3.在靜止層觀察顆粒：高水平的激光光學(xué)系統(tǒng)和高性能的CCD攝像頭可以僅觀察靜止層的顆粒。其提供的高精度結(jié)果不受電滲流的影響。
4.水平設(shè)置的長(zhǎng)方形電泳池：水平放置的長(zhǎng)方形電泳池提供了一個(gè)高度準(zhǔn)確的結(jié)果。因?yàn)檫@樣的布局幾乎不存在由于池壁附近顆粒沉淀引起電滲流非對(duì)稱化。
zeta電位測(cè)定儀注意事項(xiàng)：
1、若要進(jìn)行酸堿滴定測(cè)等電點(diǎn)或測(cè)PH值，則每次實(shí)驗(yàn)前須校正PH探針;若要測(cè)試溶液電導(dǎo)率，則須校正電導(dǎo)率。主探頭可每周校正一次。
2、每次更換樣品均需要清洗主探頭、PH探針以及容器，洗好擦干以免前面殘留粉末影響實(shí)驗(yàn)結(jié)果。
3、實(shí)驗(yàn)結(jié)束后要*清洗主探頭、PH探針和容器，并將PH探針?lè)呕厮嵝跃彌_液中。
4、若進(jìn)行酸堿滴定則每次關(guān)機(jī)前需將酸堿滴定管清洗3~5次。
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