上海寶試檢測(cè)設(shè)備有限公司提出恒溫恒濕試驗(yàn)箱、恒溫恒濕試驗(yàn)機(jī)、提出了測(cè)試的方法以及滿足的標(biāo)準(zhǔn)：
1. GB2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫
2. GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫
3. GJB150.3A－2009 高溫試驗(yàn)方法
4. GJB150.4A－2009 低溫試驗(yàn)方法
5. GB2423.22-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Nb：規(guī)定溫度變化速率的溫度變化
6. GBT 2424.5-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 溫度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)
7. GB/T 10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
8. GB/T2423.3-2008(IEC68-2-3) 試驗(yàn)Ca:恒定濕熱試驗(yàn)方法
9. GJB150.9A-2009 濕熱試驗(yàn)方法
10.G/BT 2423.4-2008/IEC6008-2-30:2005試驗(yàn)Db:交變濕熱方法
11.GB/T5170.18-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)設(shè)備
12.GB/T10586-2006濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件
13.GBT 2424.6-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 溫度 濕度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)
14.GBT 2424.7-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 試驗(yàn)A和B(帶負(fù)載)溫度試驗(yàn)箱的測(cè)量
會(huì)員1.png)