詳細摘要: 激光干涉儀采用相移技術準確表征被測表面的三維形貌,測量精度 Pv 高達 0.06μm 甚至更高,廣泛用于平面光學元件高精度檢測。
產(chǎn)品型號:所在地:上海更新時間:2024-07-20 在線留言二面體(上海)科技有限公司
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