詳細(xì)摘要： 可見光靶標(biāo)可見光靶標(biāo)主要分為兩類：A)反射式靶標(biāo)，B）透射式靶標(biāo)
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：北京市更新時(shí)間：2025-11-21 在線留言北京費(fèi)恩科技有限公司
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詳細(xì)摘要： 可見光靶標(biāo)可見光靶標(biāo)主要分為兩類：A)反射式靶標(biāo)，B）透射式靶標(biāo)
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詳細(xì)摘要： 紅外靶標(biāo)用于測(cè)試紅外成像系統(tǒng)（熱像儀）的紅外靶標(biāo)是通過(guò)在金屬薄板上加工不同圖形的孔而形成不同的靶標(biāo)
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詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品介紹Inframet生產(chǎn)的離軸反射式平行光管采用垂直結(jié)構(gòu)，平行光管的焦平面位于反射鏡垂直方向的上方
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詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品介紹MRW-8電動(dòng)靶輪是用于測(cè)試EO成像系統(tǒng)的模塊之一，能夠在平行光管的焦平面上自動(dòng)交換有效靶標(biāo)，采用8孔靶輪（支持其他靶孔數(shù)量），其表面涂有黑色高發(fā)射率涂...
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詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品介紹DCB多色黑體是帶有輻射模塊的寬帶標(biāo)準(zhǔn)光源，該輻射模塊同時(shí)反射外部短波光源（從紫外到短波紅外范圍）發(fā)出的光，并在中-長(zhǎng)波波段發(fā)出熱輻射
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詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品介紹VSB黑體可模擬在環(huán)境溫度-173℃至-33℃的冷真空室內(nèi)工作時(shí)的中低溫度目標(biāo)（-10℃至+200℃），即黑體在太空環(huán)境條件下工作時(shí)會(huì)模擬地球溫度目標(biāo)，...
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詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品介紹UHT系列黑體是超高溫黑體，溫度范圍高達(dá)1550℃，在0.2μm到200μm以上的超寬光譜帶中，黑體具有高發(fā)射率
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詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品介紹HTB系列黑體是溫度范圍高達(dá)1200℃的高溫空腔黑體
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詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品介紹：MAB黑體是商業(yè)出售的在THz和次THz波段具有高發(fā)射率的大發(fā)射面寬帶黑體
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詳細(xì)摘要： Inframet設(shè)計(jì)生產(chǎn)的用于測(cè)試多傳感器監(jiān)控系統(tǒng)的MS系列測(cè)試系統(tǒng)不僅支持這些監(jiān)控系統(tǒng)的擴(kuò)展性測(cè)試，也支持軸對(duì)準(zhǔn)測(cè)試
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詳細(xì)摘要： SIMAT外觀圖SIMAT模擬器是一個(gè)模塊化的圖像投影系統(tǒng)用于模擬在光視距范圍內(nèi)兩個(gè)或者多個(gè)可變強(qiáng)度，可變角尺寸，可變光譜，在均勻背景下的的動(dòng)態(tài)目標(biāo)
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詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品介紹BLIQ黑體是TCB黑體的特殊版本，當(dāng)黑體工作在20℃的環(huán)境溫度下，溫度范圍可擴(kuò)展至-40℃
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詳細(xì)摘要： NIGHTMET–像增強(qiáng)器模擬軟件，是用于模擬像增強(qiáng)器在采用顯微鏡對(duì)于像增強(qiáng)器的一部分在不同的亮度等級(jí)下進(jìn)行分辨率測(cè)試過(guò)程的模擬，用戶可以對(duì)亮度進(jìn)行調(diào)節(jié)用于模擬...
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詳細(xì)摘要： TCB系列黑體是超精密差分面源黑體，用于模擬冷的和中等熱目標(biāo)
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詳細(xì)摘要： STR測(cè)試系統(tǒng)外形圖STR測(cè)試系統(tǒng)是一個(gè)面向條紋管的重要參數(shù)測(cè)試的多功能的測(cè)試系統(tǒng)，包括輻射參數(shù)，空間參數(shù)以及時(shí)間參數(shù)
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詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品介紹：從設(shè)計(jì)的角度看，SOL測(cè)試系統(tǒng)是一種能夠進(jìn)行光譜帶寬階躍調(diào)節(jié)、光強(qiáng)連續(xù)調(diào)節(jié)的標(biāo)定光源，對(duì)被測(cè)成像探測(cè)器和圖像處理系統(tǒng)進(jìn)行照射，進(jìn)而分析被測(cè)成像探測(cè)器（...
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詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品介紹TRAL測(cè)試系統(tǒng)外形圖a)輻射配置，b)光譜配置TRAL測(cè)試系統(tǒng)原理圖:a)輻射配置，b)光譜配置TRAL紅外探測(cè)器通用測(cè)試系統(tǒng)用于測(cè)量在700nm到1...
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詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品介紹：SIT測(cè)試系統(tǒng)是兩個(gè)主要模塊的總和：波長(zhǎng)和光強(qiáng)連續(xù)可調(diào)的校準(zhǔn)光源SITO和IPS圖像處理系統(tǒng)（PC、圖像采集卡、軟件）
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詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品介紹VIT測(cè)試系統(tǒng)外形圖VIT型VIS-SWIR成像探測(cè)器測(cè)試系統(tǒng)是一個(gè)可擴(kuò)展的用于測(cè)試硅成像探測(cè)器、黑硅成像探測(cè)器以及InGaAs成像探測(cè)器的測(cè)試系統(tǒng)，支...
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詳細(xì)摘要： SPOT測(cè)試系統(tǒng)的外形圖SPOT中波紅外焦平面陣列空間響應(yīng)測(cè)試系統(tǒng)是掃描式光斑投影系統(tǒng)，它將高亮度的極小光斑投射到被測(cè)MWIRFPA表面上，同時(shí)測(cè)量其輸出信號(hào)
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