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顯微光譜測(cè)量系統(tǒng)-MicroTEQ-A1

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MicroTEQ-A1顯微光譜測(cè)量系統(tǒng)，集成熒光、共焦拉曼測(cè)量功能*

詳細(xì)介紹

MicroTEQ-A1顯微光譜測(cè)量系統(tǒng)，集成熒光、共焦拉曼測(cè)量功能^*。通過(guò)把光譜測(cè)量模塊集成到正置或倒置顯微鏡上，實(shí)現(xiàn)顯微熒光、共焦拉曼和其他光譜信息的測(cè)量。系統(tǒng)由光譜儀、激光器、顯微鏡、光譜測(cè)試模塊等部分構(gòu)成。

*注：使用光纖代替共聚焦系統(tǒng)內(nèi)的小孔（Pinhole）。

應(yīng)用范圍

腫瘤檢測(cè)
珠寶鑒定：翡翠、寶石的真假區(qū)分
地質(zhì)研究
法學(xué)：筆跡鑒定、檢測(cè)等

定制顯微鏡

MicroTEQ-A1 系統(tǒng)可以適配不同品牌和種類的顯微鏡，客戶可根據(jù)需求自行挑選。同時(shí)，由于應(yīng)用領(lǐng)域的多樣性，客戶對(duì)系統(tǒng)性能的側(cè)重點(diǎn)各不相同，該系統(tǒng)對(duì)此提供定制服務(wù)，滿足客戶的不同需求。

系統(tǒng)參數(shù)

型號(hào)	MicroTEQ-A1
光譜儀配置	拉曼	拉曼	熒光
光譜儀	QEPRO@532 nm	QEPRO@785 nm	QEPRO-FL
光譜范圍	150-4200 cm^-1@532 nm	150-2000 cm^-1@785 nm	300-1050 nm
分辨率	~10 cm^-1@5 um狹縫	~6 cm^-1@5 um狹縫	1.5 nm@5 um狹縫
探測(cè)器	背照減薄型面陣CCD
激光器	單縱模激光，可選用光纖外接其他激光器
功率	50 mW
波長(zhǎng)	532 nm
光束發(fā)散	1.3 mrad
顯微光譜測(cè)量模塊	400-1100 nm
模塊輸出能量	25 mW
手動(dòng)衰減切換	50%, 10%, 1%, 0.1%
光斑尺寸	10x NA0.25 物鏡下 <=10>