生產(chǎn)廠家廣東皓天檢測儀器有限公司擁有專業(yè)的生產(chǎn)研發(fā)技術(shù)，一站式周到服務(wù)。作為一家專注于試驗設(shè)備產(chǎn)品的大型儀器制造商，皓天設(shè)備致力于為消費者提供技術(shù)、品質(zhì)的優(yōu)秀產(chǎn)品。

塔式材料紫外線老化試驗箱芯片封裝

工作原理：采用塔式聚焦式紫外線照射結(jié)構(gòu)，頂部高功率燈管陣列形成定向輻照區(qū)，配合多層樣品托盤實現(xiàn)芯片封裝件的分層測試。設(shè)備通過紫外線穿透封裝膠體（如環(huán)氧塑封料、硅膠），引發(fā)高分子材料交聯(lián)或降解，同時結(jié)合溫濕度循環(huán)系統(tǒng)模擬晝夜溫差與潮濕環(huán)境，加速封裝層開裂、引線氧化、鍵合失效等老化現(xiàn)象。微氣流控制技術(shù)可精準(zhǔn)調(diào)節(jié)芯片表面風(fēng)速（0.2-1m/s），復(fù)現(xiàn)芯片工作時的散熱條件，實現(xiàn) “光 - 熱 - 濕 - 力" 多因素耦合老化模擬。

塔式材料紫外線老化試驗箱芯片封裝

用途：專為芯片封裝可靠性測試設(shè)計，用于評估集成電路、功率器件等封裝結(jié)構(gòu)在戶外或高溫環(huán)境下的耐老化性能?？蓽y試塑封料黃變、引線鍵合強度衰減、焊點氧化、密封膠失效等問題，為封裝材料選型（如低應(yīng)力環(huán)氧、高耐候硅膠）、封裝工藝優(yōu)化（如引線鍵合參數(shù)、塑封壓力）及芯片使用壽命預(yù)測提供關(guān)鍵數(shù)據(jù)，保障汽車電子、工業(yè)控制、戶外光伏等領(lǐng)域芯片的長期穩(wěn)定運行。

技術(shù)參數(shù)：紫外線波長聚焦 300-400nm（以 UVA-351 為主，模擬陽光透過玻璃后的紫外線成分），輻照度調(diào)節(jié)范圍 0.3-1.2W/m2，均勻度≥90%；工作室尺寸 500×500×600mm，溫度控制范圍 - 40℃-125℃，溫度變化速率 5℃/min（-40℃至 125℃）；濕度控制 10%-95% RH，波動度 ±3%；測試周期 1-9999 小時，可容納 8 英寸晶圓級封裝件或 50 片 SOP、QFP 等封裝形式芯片，支持同時測試 10 組不同型號樣品。

溫度控制系統(tǒng)：采用三回路 PID 控溫技術(shù)，結(jié)合鉑金電阻與紅外雙傳感器，實現(xiàn)箱內(nèi)環(huán)境溫度與芯片結(jié)溫的同步監(jiān)控，控溫精度 ±0.5℃。搭載智能熱補償算法，可根據(jù)紫外線輻照度自動調(diào)節(jié)加熱功率，避免局部過熱導(dǎo)致的測試偏差。配備獨立超溫保護系統(tǒng)（響應(yīng)時間＜0.1s），當(dāng)溫度超過設(shè)定值 10℃時自動切斷電源并啟動風(fēng)冷，防止芯片樣品損壞。