李經(jīng)理
目錄:廣東皓天檢測(cè)儀器有限公司>>快速溫變?cè)囼?yàn)箱>>線(xiàn)性快速溫變?cè)囼?yàn)箱>> TEC-408PF運(yùn)行平穩(wěn)線(xiàn)性快速溫變箱,噪音低干擾小
| 參考價(jià) | ¥36000-¥156200 | /臺(tái) |
參考價(jià):¥36000 ~ ¥156200
更新時(shí)間:2026-08-03 09:33:06瀏覽次數(shù):444評(píng)價(jià)
李經(jīng)理
| 產(chǎn)地 | 國(guó)產(chǎn) | 加工定制 | 是 |
|---|---|---|---|
| 適用領(lǐng)域 | 石油 | 溫度范圍 | -70°C~+150°C |
| 升溫時(shí)間 | 士1.0°C(-20-+100°C)±1.5°C(+100.1~+150°C)士 | 降溫時(shí)間 | 非線(xiàn)性升溫速率( 5°C/10°C/15°C/20°C/25°C |
| 內(nèi)體材料 | 不銹鋼板(SUS304CP種, | 制冷方式 | 機(jī)械式雙級(jí)壓縮制冷方式(氣冷冷凝器或水冷換熱器 |
本產(chǎn)品是一款環(huán)境可靠性測(cè)試設(shè)備,專(zhuān)注于提供精確、線(xiàn)性的快速溫度變化條件。其核心設(shè)計(jì)理念在于實(shí)現(xiàn)極限溫變性能的同時(shí),確保設(shè)備在長(zhǎng)期運(yùn)行中的平穩(wěn)與低噪音,為測(cè)試樣品、操作人員及周邊環(huán)境提供無(wú)干擾的穩(wěn)定保障。
線(xiàn)性溫變控制: 溫度變化過(guò)程嚴(yán)格遵循線(xiàn)性速率,避免過(guò)沖或欠調(diào),保證測(cè)試條件的準(zhǔn)確性與重復(fù)性。
高精度控溫: 采用PID+模糊邏輯控制算法,箱內(nèi)溫度波動(dòng)度小,均勻性佳。
寬溫區(qū)范圍: 覆蓋-70℃至+150℃(或根據(jù)配置)的廣泛溫度范圍,滿(mǎn)足絕大多數(shù)嚴(yán)苛測(cè)試要求。
人性化操作: 大型彩色觸摸屏界面,編程邏輯簡(jiǎn)潔,支持多段程式編輯與連接,操作簡(jiǎn)單易上手。
堅(jiān)固耐用: 內(nèi)膽采用高級(jí)不銹鋼,保溫層經(jīng)過(guò)加厚優(yōu)化,關(guān)鍵部件均選用國(guó)際品牌,確保設(shè)備長(zhǎng)壽命。
提升測(cè)試準(zhǔn)確性: 運(yùn)行平穩(wěn)與低干擾特性,有效避免了外部機(jī)械振動(dòng)和電磁噪聲對(duì)敏感樣品測(cè)試結(jié)果的干擾。
改善實(shí)驗(yàn)環(huán)境: 低噪音設(shè)計(jì)提升了實(shí)驗(yàn)室的舒適度,保護(hù)人員健康,尤其適合安裝在辦公區(qū)附近的實(shí)驗(yàn)室。
高可靠性: 穩(wěn)定的性能減少了設(shè)備故障率,降低了維護(hù)成本和停機(jī)時(shí)間。
*的兼容性: 能夠滿(mǎn)足從消費(fèi)電子到航天等不同行業(yè)的可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。
設(shè)備通過(guò)一套集成的高效制冷系統(tǒng)(通常采用復(fù)疊式制冷)和電加熱系統(tǒng),在微電腦控制器的精確指令下,對(duì)密閉的測(cè)試腔體內(nèi)的空氣進(jìn)行強(qiáng)制加熱或冷卻。通過(guò)大功率風(fēng)機(jī)促使箱內(nèi)空氣高速循環(huán),流經(jīng)換熱器與樣品表面,從而實(shí)現(xiàn)預(yù)設(shè)的線(xiàn)性快速溫度變化率。
溫度范圍: -70℃ ~ +150℃
線(xiàn)性溫變速率: 5℃/min ~ 15℃/min(可定制更高規(guī)格)
溫度波動(dòng)度: ≤±0.5℃
溫度均勻度: ≤2.0℃
內(nèi)箱容積: 標(biāo)準(zhǔn)80L~1000L(可選)
噪音水平: ≤65 dB(A) (在距離設(shè)備1米處測(cè)量)
控制器: 7英寸全彩觸摸屏,可編程控制器
制冷方式: 機(jī)械式復(fù)疊制冷/液氮輔助(可選)
汽車(chē)電子: 車(chē)載攝像頭、控制器(ECU)、傳感器等的環(huán)境適應(yīng)性測(cè)試。
航空航天: 機(jī)載設(shè)備、衛(wèi)星元器件的可靠性篩選與 qualification 測(cè)試。
消費(fèi)電子: 智能手機(jī)、筆記本電腦、可穿戴設(shè)備的快速溫變老化測(cè)試。
半導(dǎo)體IC: 集成電路、芯片的早期故障篩選。
新材料: 復(fù)合材料、化工材料在溫度沖擊下的性能研究。
主要用于評(píng)估產(chǎn)品在規(guī)定的溫度變化速率下,抵抗溫度變化應(yīng)力的能力。它可以用于:
環(huán)境應(yīng)力篩選(ESS): 在產(chǎn)品出廠前,剔除有制造缺陷的早期故障產(chǎn)品。
加速壽命測(cè)試(ALT): 模擬產(chǎn)品在生命周期內(nèi)可能經(jīng)歷的溫度循環(huán),預(yù)估其壽命。
工程驗(yàn)證測(cè)試(EVT): 驗(yàn)證產(chǎn)品設(shè)計(jì)是否能承受預(yù)期的環(huán)境條件。
質(zhì)量控制(QC): 對(duì)批量生產(chǎn)的產(chǎn)品進(jìn)行抽樣測(cè)試,確保質(zhì)量一致性。
設(shè)備設(shè)計(jì)符合并滿(mǎn)足以下國(guó)家及國(guó)際標(biāo)準(zhǔn):
GB/T 2423.22 (環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N:溫度變化)
IEC 60068-2-14 (基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 第2-14部分:試驗(yàn)N:溫度變化)
GJB 150.5A (裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第5部分:溫度沖擊試驗(yàn))
MIL-STD-810G (Method 503.5 Temperature Shock)
?各企業(yè)內(nèi)部的可靠性測(cè)試規(guī)范。




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