李經(jīng)理
目錄:廣東皓天檢測儀器有限公司>>復(fù)式高低溫試驗箱>>雙層溫度箱>> SPB-80L-2P復(fù)層恒溫恒濕試驗機(jī) 適用于電子元件測試
| 產(chǎn)地 | 國產(chǎn) | 額定電壓 | 380V |
|---|---|---|---|
| 加工定制 | 是 | 濕度范圍 | 10-98% R.H |
| 適用領(lǐng)域 | 化工 | 外形尺寸 | 78x112x151mm |
| 溫度波動度 | 0.5℃ | 溫度范圍 | -70~+150℃ |
| 溫度均勻度 | 2.0% | 重量 | 350kg |
| 絕緣材料 | 硬質(zhì)聚氨酯泡沫料(帶阻燃劑) | 解析精度 | 溫度: 0.01C;濕度: 0.1%RH |
| 溫濕度偏差 | 溫度:土1.0C;濕度: +2.5%RH |
復(fù)層恒溫恒濕試驗機(jī) 適用于電子元件測試生產(chǎn)廠家廣東皓天檢測儀器有限公司擁有專業(yè)的生產(chǎn)研發(fā)技術(shù),一站式周到服務(wù)。作為一家專注于試驗設(shè)備產(chǎn)品的大型儀器制造商,皓天設(shè)備致力于為消費(fèi)者提供技術(shù)、品質(zhì)的優(yōu)秀產(chǎn)品。
產(chǎn)品詳情
本產(chǎn)品是一款專為電子元器件、PCBA(印制電路板組件)、模塊及小型整機(jī)可靠性測試而設(shè)計的精密環(huán)境模擬設(shè)備。其核心采用創(chuàng)新的“復(fù)層"(多層獨(dú)立測試艙)結(jié)構(gòu)設(shè)計,在單臺設(shè)備內(nèi)集成了兩個或以上可獨(dú)立編程控制的測試空間。每個測試層均配備高精度溫濕度傳感器和高效循環(huán)風(fēng)道系統(tǒng),允許用戶在同一時間、同一臺設(shè)備上,對不同樣品或同一樣品在不同溫濕度條件下進(jìn)行并行對比測試,極大提升了測試效率與設(shè)備空間利用率。
主要用途
該試驗機(jī)主要用于評估電子元件及產(chǎn)品在不同溫濕度環(huán)境下的性能、可靠性及耐久性。通過模擬高溫高濕、高溫低濕、低溫高濕、低溫低濕、溫濕度循環(huán)等應(yīng)力條件,可提前發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品因吸濕、凝露、材料膨脹/收縮、電氣性能漂移等引起的潛在缺陷,是進(jìn)行可靠性篩選(HALT/HASS)、質(zhì)量評估、失效分析和產(chǎn)品定型的關(guān)鍵設(shè)備。
主要功能及特點(diǎn)
獨(dú)立復(fù)層控制:各測試層溫濕度可獨(dú)立設(shè)定與運(yùn)行,互不干擾,實現(xiàn)一機(jī)多用。
高精度控制:采用進(jìn)口品牌溫濕度傳感器和PID智能算法,確保箱內(nèi)環(huán)境均勻、穩(wěn)定,控溫精度可達(dá)±0.1℃~±0.5℃,控濕精度可達(dá)±1.5%RH~±2.5%RH。
寬廣的溫濕度范圍:典型范圍涵蓋-70℃~+150℃(溫度),10%RH~98%RH(濕度),可滿足絕大多數(shù)電子測試標(biāo)準(zhǔn)要求。
*的編程功能:支持多段、可循環(huán)的溫濕度程序設(shè)定,可模擬晝夜交替、地域氣候、加速老化等復(fù)雜環(huán)境剖面。
安全保障與觀測:具備超溫、漏電、風(fēng)機(jī)過熱等多重保護(hù);可選配雙層中空玻璃觀測窗及內(nèi)腔照明,便于實時觀察樣品狀態(tài)。
數(shù)據(jù)記錄與追溯:配備標(biāo)準(zhǔn)USB或以太網(wǎng)接口,可全程記錄并導(dǎo)出溫濕度-時間曲線數(shù)據(jù),便于測試報告生成與分析。
技術(shù)特點(diǎn)
高效節(jié)能:復(fù)層結(jié)構(gòu)共用部分制冷與控制系統(tǒng),相比多臺單箱設(shè)備,能耗更低,占地面積更小。
氣流優(yōu)化設(shè)計:每層采用特殊設(shè)計的水平/垂直送風(fēng)方式,保證工作區(qū)內(nèi)溫濕度的高度均勻性。
制冷系統(tǒng):采用國際渦旋式或變頻壓縮機(jī)組成的復(fù)疊式/單級制冷系統(tǒng),冷卻速度快,運(yùn)行可靠,低溫環(huán)境下仍能穩(wěn)定除濕。
優(yōu)質(zhì)材料:內(nèi)膽采用304不銹鋼,外殼為優(yōu)質(zhì)冷軋鋼板噴塑,確保長期耐腐蝕與美觀。
應(yīng)用場景
研發(fā)階段:用于電子新產(chǎn)品的環(huán)境適應(yīng)性驗證、極限條件測試和設(shè)計缺陷暴露。
生產(chǎn)階段:用于批量產(chǎn)品的出廠可靠性篩選(ESS),剔除早期故障品。
質(zhì)檢階段:用于來料檢驗(IC、電容、電感等)或成品抽檢,符合如IPC、JEDEC、IEC、GB等標(biāo)準(zhǔn)。
失效分析:重現(xiàn)現(xiàn)場失效環(huán)境,輔助定位產(chǎn)品失效的根本原因。




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