詳細(xì)摘要： RTS-5型雙電測四探針測試儀RTS-5型雙電測四探針測試儀采用了四探針雙電測組合(亦稱雙位組合)測量新技術(shù),將范德堡測量方法推廣應(yīng)用到直線四探針上,利用電流探...
產(chǎn)品型號：所在地：廣州市更新時間：2025-03-22 在線留言廣州四探針科技有限公司
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詳細(xì)摘要： RTS-5型雙電測四探針測試儀RTS-5型雙電測四探針測試儀采用了四探針雙電測組合(亦稱雙位組合)測量新技術(shù),將范德堡測量方法推廣應(yīng)用到直線四探針上,利用電流探...
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詳細(xì)摘要： RTS-9型雙電測四探針測試儀RTS-9型雙電測四探針測試儀采用了四探針雙電測組合(亦稱雙位組合)測量新技術(shù),將范德堡測量方法推廣應(yīng)用到直線四探針上,利用電流探...
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詳細(xì)摘要： CV-5000型電容電壓特性測試儀在集成電路特別是MOS電路的生產(chǎn)和開發(fā)研制中，MOS電容的C-V測試是極為重要的工藝過程監(jiān)控測試手段，通過C-V測試達(dá)到優(yōu)化生...
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詳細(xì)摘要： ST-21L型方塊電阻測試儀ST-21L型方塊電阻測試儀是一種依照類似的國家標(biāo)準(zhǔn)和美國A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)，專門測量半導(dǎo)體薄層電阻(表面電阻)的新型儀器，可用于測...
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詳細(xì)摘要： SDY-5型雙電測四探針測試儀SDY-5型雙電測四探針測試儀采用了四探針雙位組合測量技術(shù),利用電流探針、電壓探針的變換
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詳細(xì)摘要： ST-21型方塊電阻測試儀ST-21型方塊電阻測試儀是一種依照類似的國家標(biāo)準(zhǔn)和美國A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)，專門測量半導(dǎo)體薄層電阻(表面電阻)的新型儀器，可用于測量一...
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詳細(xì)摘要： ST-21H型方塊電阻測試儀ST-21H型方塊電阻測試儀是一種依照類似的國家標(biāo)準(zhǔn)和美國A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)，專門測量半導(dǎo)體薄層電阻(表面電阻)的新型儀器，可用于測...
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詳細(xì)摘要： ST-20型方塊電阻測試儀ST-20掌上型方塊電阻測試儀是一種依照類似的國家標(biāo)準(zhǔn)和美國A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)，專門測量半導(dǎo)體薄層電阻(面電阻)的新型儀器，可用于測量...
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詳細(xì)摘要： XX-2型方塊電阻測試儀XX-2型方塊電阻測試儀是XX型系列四探針方塊電阻測試儀中的新一代產(chǎn)品,專門測量半導(dǎo)體薄層電阻(面電阻)的新型儀器可用于測量一般半導(dǎo)體材...
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詳細(xì)摘要： SRM-232型方塊電阻測試儀SRM-232型方塊電阻測試儀是手持式方塊電阻測試儀,專門測量半導(dǎo)體薄層電阻(面電阻)的新型儀器可用于測量一般半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電薄膜...
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詳細(xì)摘要： RTS-11型金屬四探針測試儀專用于測試低阻金屬材料電阻率及方塊電阻測量范圍：電阻率：10-7～10-2Ω.cm
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詳細(xì)摘要： HTS-110型金屬四探針溫控測試系統(tǒng)測試低阻金屬材料電阻率、方塊電阻、電阻在不同溫度時的數(shù)值，并繪出數(shù)值隨溫度變化的曲線
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詳細(xì)摘要： SDY-4型四探針測試儀SDY-4型四探針測試儀是根據(jù)單晶硅物理測試方法國家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計的半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)測試專用...
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詳細(xì)摘要： HP系列四探針探頭HP-501型四探針探頭HP-504型四探針探頭HP系列四探針探頭是一種專門測量半導(dǎo)體薄層電阻(面電阻)的方塊電阻測試儀配用的四探針測試探頭
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詳細(xì)摘要： SP-601型方形四探針探頭SP-601型方形四探針探頭是一種專門測量半導(dǎo)體薄層電阻(面電阻)的方塊電阻測試儀配用的方型四探針測試探頭，專用于測量小樣品的四探針...
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詳細(xì)摘要： LP-701型四探針探頭LP-701型四探針探頭(長把手設(shè)計)是一種專門測量半導(dǎo)體薄層電阻(面電阻)的方塊電阻測試儀配用的四探針測試探頭，可用于測量一般半導(dǎo)體材...
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詳細(xì)摘要： ST-102E型探針測試臺顯微鏡和USB接口CCD攝像頭共存的監(jiān)視方式ST-102E型探針測試臺（英文叫Proberstation,中文又稱中測臺,點測機(jī)
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詳細(xì)摘要： RTS-8型四探針測試儀恒流源電流量程分為1μA、10μA、100μA、1mA、10mA、100mA六檔
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詳細(xì)摘要： RTS-1345型全自動四探針測試系統(tǒng)可對樣品進(jìn)行單點、五點、九點、多點、直徑掃描、面掃描等模式的全自動測試
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