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HY(IC)卡片材料彎扭試驗(yàn)機(jī)技 術(shù) 參 數(shù):本儀器針對(duì)性IC卡在國(guó)標(biāo)GB/T 16649.1,國(guó)標(biāo)GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO...
南京IC卡動(dòng)態(tài)彎扭試驗(yàn)機(jī)產(chǎn)品用途: 用于檢測(cè)磁條卡,IC芯片卡,集成電路卡,等卡的彎曲和扭曲性能測(cè)試。
IC卡動(dòng)態(tài)彎曲試驗(yàn)機(jī)產(chǎn)品用途: 用于檢測(cè)磁條卡,IC芯片卡,集成電路卡,等卡的彎曲和扭曲性能測(cè)試。
HY(IC)IC卡動(dòng)態(tài)彎扭試驗(yàn)機(jī)設(shè)備本儀器針對(duì)IC卡在國(guó)標(biāo)GB/T 16649.1等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)中的彎曲、扭矩的試驗(yàn); 采用先進(jìn)的同步帶傳動(dòng),非接觸式光電計(jì)數(shù),15...
本儀器針對(duì)性IC卡在國(guó)標(biāo)GB/T 16649.1,國(guó)標(biāo)GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998標(biāo)準(zhǔn)等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)中的彎曲、扭矩...
本儀器針對(duì)性IC卡在國(guó)標(biāo)GB/T 16649.1,國(guó)標(biāo)GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998標(biāo)準(zhǔn)等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)中的彎曲、扭矩...
本儀器針對(duì)性IC卡在國(guó)標(biāo)GB/T 16649.1,國(guó)標(biāo)GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998標(biāo)準(zhǔn)等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)中的彎曲、扭矩...
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