一鍵測(cè)量?jī)x是近兩年興起的快速影像測(cè)量設(shè)備，主要是為了滿足各種小型元器件的大批量生產(chǎn)過程中，更高速、更便捷、更精準(zhǔn)的測(cè)量需要。二次元影像測(cè)量?jī)x是上世紀(jì)70年代開始發(fā)展的二維平面尺寸測(cè)量?jī)x器，目前在各行業(yè)中被普遍應(yīng)用。

一鍵測(cè)量?jī)x是在二次元影像測(cè)量?jī)x的基礎(chǔ)上發(fā)展起來的，兩者均為光學(xué)影像測(cè)量，因此有著千絲萬縷的聯(lián)系，但是又有著明顯區(qū)別，本文就兩者進(jìn)行對(duì)比分析。

組成

一鍵測(cè)量?jī)x由上下光源、高像素CCD相機(jī)、大視角大景深遠(yuǎn)心鏡頭、載物臺(tái)、顯示器和測(cè)量軟件組成，相對(duì)結(jié)構(gòu)比較簡(jiǎn)單。

二次元影像測(cè)量?jī)x是由高解析度CCD彩色鏡頭、連續(xù)變倍物鏡、彩色顯示器、精密光柵尺、多功能數(shù)據(jù)處理器、數(shù)據(jù)測(cè)量軟件與高精密工作臺(tái)結(jié)構(gòu)組成。

測(cè)量方式

一鍵測(cè)量?jī)x是通過大視角大景深的遠(yuǎn)心鏡頭，將產(chǎn)品輪廓影像傳遞至高分辨率CCD相機(jī)上做數(shù)字化處理，再由后臺(tái)測(cè)量軟件按照預(yù)先編程指令快速抓取產(chǎn)品輪廓圖，根據(jù)其微小像素點(diǎn)形成的標(biāo)尺進(jìn)行對(duì)比后計(jì)算出產(chǎn)品尺寸，同時(shí)完成對(duì)尺寸公差的評(píng)價(jià)。

影像測(cè)量?jī)x是建立在CCD數(shù)位影像的基礎(chǔ)上，依托于專用控制與圖形測(cè)量軟件，快速讀取光柵尺的位移數(shù)值，通過建立在空間幾何基礎(chǔ)上的軟件模塊運(yùn)算，瞬間得出所要結(jié)果。并在屏幕上產(chǎn)生圖形，供操作員進(jìn)行圖影對(duì)照，從而分辨測(cè)量結(jié)果可能存在的偏差。

測(cè)量效率

一鍵測(cè)量?jī)x帶有自動(dòng)識(shí)別功能，能夠輕松識(shí)別位置及原點(diǎn)，因此元件在測(cè)量時(shí)，無需刻意擺正，只需按下一鍵，數(shù)量?jī)?nèi)即可完成精密測(cè)量。同時(shí)一次可以測(cè)量多個(gè)產(chǎn)品，一次可測(cè)99個(gè)位置，因此測(cè)量效率。

二次元影像測(cè)量?jī)x分為手動(dòng)和自動(dòng)。手動(dòng)二次元由于需要手動(dòng)調(diào)整焦距和工作臺(tái)，因此相對(duì)費(fèi)時(shí)費(fèi)力，測(cè)量的尺寸越多，所需的時(shí)間就越長(zhǎng)，一般來說，手動(dòng)二次元主要用于樣品或者是小批量測(cè)量。自動(dòng)二次元無需手動(dòng)調(diào)整焦距和工作臺(tái)，因此測(cè)量效率比手動(dòng)二次元要高很多，但是需要操作鼠標(biāo)定位和尋找輪廓影像取點(diǎn)測(cè)量，因此測(cè)量的尺寸一多，時(shí)間也會(huì)拉長(zhǎng)。

精度及誤差

一鍵測(cè)量?jī)x主要針對(duì)于小尺寸元件進(jìn)行測(cè)量，目前行業(yè)內(nèi)比較好一鍵測(cè)量?jī)x精度基本在5μm左右，能夠滿足絕大多數(shù)測(cè)量要求。一鍵測(cè)量?jī)x操作相對(duì)簡(jiǎn)單，因此對(duì)員工的要求更低，只需進(jìn)行簡(jiǎn)單培訓(xùn)就可試機(jī)操作，由于是全自動(dòng)測(cè)量，因此其重復(fù)精度非常高，任何人操作均可得到相同的測(cè)量結(jié)果；

二次元影像測(cè)量?jī)x相對(duì)一鍵測(cè)量?jī)x，其測(cè)量范圍更廣，基本能夠應(yīng)對(duì)常見的各尺寸元件，而且測(cè)量精度會(huì)比一鍵測(cè)量?jī)x更高，好一些的二次元設(shè)備精度可達(dá)到1.5-2μm。不過相對(duì)而言，二次元影像測(cè)量?jī)x對(duì)操作人員要求更高，需要進(jìn)行專業(yè)培訓(xùn)，員工在實(shí)際操作過程中，需要鼠標(biāo)取點(diǎn)，難免會(huì)存在人為誤差，同時(shí)對(duì)焦方式、照明方式和員工的操作習(xí)慣不同均能影像測(cè)量結(jié)果，操作人員不同可能會(huì)導(dǎo)致測(cè)量結(jié)果不同。

Z軸高度測(cè)量

一鍵測(cè)量?jī)x因其結(jié)構(gòu)特征，目前基本只能檢測(cè)平面的輪廓尺寸，對(duì)工件的要求比較高。一些需要測(cè)量Z軸高度的，只能使用二次元影像測(cè)量?jī)x進(jìn)行測(cè)量，二次元設(shè)備可以通過加裝非接觸式激光測(cè)頭和接觸式測(cè)頭升級(jí)成2.5次元影像儀，這樣就可以對(duì)工件高度進(jìn)行測(cè)量。