電感耦合等離子體(ICP)和質(zhì)譜(MS)技術(shù)的聯(lián)姻成為20世紀(jì)80年代初分析化學(xué)領(lǐng)域最成功的創(chuàng)舉,也是分析科學(xué)家們最富有成果的一次國際性技術(shù)合作。
從1980年Houk等人的篇ICP-MS可行性文章發(fā)表,到1983年臺商品化儀器的問世只有3年時間。
盡管早期ICP-MS系統(tǒng)昂貴、龐大、復(fù)雜、自動化程度有限,而且信號漂移嚴(yán)重,但低檢出限的多元素同時檢測和簡單的質(zhì)譜信息輸出(包含同位素比值信息)等顯著的優(yōu)點使人們很快接受了這項剛出現(xiàn)的技術(shù)。
基本原理:樣品進行ICP-MS分析時一般經(jīng)過以下四步:(1)分析樣品通常以水溶液的氣溶膠形式引入氬氣流中,然后進入由射頻能量激發(fā)的處于大氣壓下的氬等離子體中心區(qū);
(2)等離子的高溫使樣品去溶劑化、汽化解離和電離;
(3)部分等離子體經(jīng)過不同的壓力區(qū)進入真空系統(tǒng),在真空系統(tǒng)內(nèi),正離子被拉出并按其質(zhì)荷比分離;
(4)檢測器將離子轉(zhuǎn)化為電子脈沖,然后由積分測量線路計數(shù);
電子脈沖的大小與樣品中分析離子的濃度有關(guān),通過與已知的標(biāo)準(zhǔn)或參比物質(zhì)比較,實現(xiàn)未知樣品的痕量元素定量分析。基本構(gòu)造:一個標(biāo)準(zhǔn)的ICP-MS儀器分為三個基本部分:
(1)ICP(樣品引入系統(tǒng),離子源)
(2)接口(采樣錐,截取錐)
(3)質(zhì)譜儀(離子聚焦系統(tǒng),四級桿過濾器,離子檢測器)
結(jié)構(gòu)解析:
樣品引入
(1)流動注射進樣特點:樣品用量少,對溶液TDS和粘度要求不高,設(shè)備簡單靈活;
(2)電熱蒸發(fā)直接進樣特點:進樣量少,傳輸率高(>60%),可預(yù)先去除溶劑,可預(yù)先去除基體;
(3)氫化物發(fā)生進樣特點:接近于99%的傳輸率,與溶液基體充分分離,具有預(yù)富集的效果;
(4)激光燒蝕法進樣特點:原位無損分析,重現(xiàn)性好,線性范圍寬,適用于多種樣品(包括鋼鐵、陶瓷、礦物、核材料、食品等)。
霧化器:ICP-MS中主要使用三種類型的霧化器:
氣流與毛細管平行,氣流迅速通過毛細管末端,溶液由毛細管引入低壓區(qū),低壓與高速氣流共同將溶液破碎成氣溶膠。缺點:易堵塞、更換成本高、玻璃材質(zhì)不耐*。利用高速氣流與液流之間接觸使液體破碎產(chǎn)生氣溶膠。氣流從一細孔中高速噴出,將沿V型槽流下的蒲層液流破碎成霧滴。Babington型霧化器事實上是交叉流霧化器中的一種。
離子源:
等離子體指的是含有一定濃度陰陽離子,能夠?qū)щ姷臍怏w混合物。在等離子體中,陰陽離子的濃度是相同的,凈電荷為零。通常用氬形成等離子體。氬離子和電子是主要導(dǎo)電物質(zhì),一般溫度可以達到10,000K。等離子體是一種電荷放電,而不是化學(xué)火焰!
接口:
接口是整個ICP-MS系統(tǒng)最關(guān)鍵的部分。其功能是將等離子體中的離子有效傳出到質(zhì)譜。在質(zhì)譜和等離子體之間存在溫度、壓力和濃度的巨大差異,前者要求在高真空和常溫條件下工作(質(zhì)譜技術(shù)要求離子在運動中不產(chǎn)生碰撞),而后者則是在常壓下工作。
如何將高溫、常壓下的等離子體中的離子有效地傳輸?shù)礁哒婵铡⒊叵碌馁|(zhì)譜儀,這是接口技術(shù)所要解決的難題。必須使足夠多的等離子體在這兩個壓力差別非常大的區(qū)域之間有效傳輸,而且在離子傳輸?shù)娜^程中,不應(yīng)該產(chǎn)生任何影響最終分析結(jié)果可靠性的反應(yīng),即樣品離子在性質(zhì)和相對比例上不應(yīng)有變化。
(7)采樣錐在等離子體內(nèi),通過軟件操作,自動確定位置(X、Y、Z方向);(8)易于拆卸和維護(錐口拆冼過程中,不影響真空系統(tǒng),無需卸真空)。
采樣錐:作用是把來自等離子體中心通道的載氣流,即離子流大部分吸入錐孔,進入級真空室。采樣錐通常由Ni、Al、Cu、Pt等金屬制成,Ni錐使用最多。
截取錐:作用是選擇來自采樣錐孔的膨脹射流的中心部分,并讓其通過截取錐進入下一級真空。截取錐安裝在采樣錐后,并與其在同軸線,兩者相距6-7mm,通常也由鎳材料制成,截取錐通常比采樣錐的角度更尖一些,以便在尖口邊緣形成的沖擊波最小。
離子聚焦系統(tǒng)
ICP-MS的離子聚焦系統(tǒng)與原子發(fā)射或吸收光譜中的光學(xué)透鏡一樣起聚焦作用,但聚焦的是離子,而不是光子。透鏡材料及聚焦原理基于靜電透鏡。整個離子聚集系統(tǒng)由一組靜電控制的金屬片或金屬筒或金屬環(huán)組成,其上施加一定值電壓。其原理是利用離子的帶電性質(zhì),用電場聚集或偏轉(zhuǎn)牽引離子,將離子限制在通向質(zhì)量分析器的路徑上,也就是將來自截取錐的離子聚焦到質(zhì)量過濾器。而光子以直線傳播,中性粒子不受電場牽引,因而可以離軸方式偏轉(zhuǎn)或采用擋板、90°轉(zhuǎn)彎等方式,拒絕中性原子并消除來自ICP的光子通過。
四級桿濾質(zhì)器
四極桿的工作原理是基于在四根電極之間的空間產(chǎn)生一個隨時間變化的特殊電場,只有給定質(zhì)荷比(m/z)的離子才能獲得穩(wěn)定的路徑而通過極棒,從其另一端出射。其離子將被過分偏轉(zhuǎn),與極棒碰撞,并在極棒上被中和而丟失。四極桿是一個順序質(zhì)量分析器,必須依次對目標(biāo)質(zhì)量進行掃描,并在一個測量周期內(nèi)采集離子。其掃描速度很快,大約每100毫秒可掃描整個元素覆蓋的質(zhì)量范圍。
離子檢測器
四極桿系統(tǒng)將離子按質(zhì)荷比分離后最終引入檢測器。檢測器將離子轉(zhuǎn)換成電子脈沖,然后由積分線路計數(shù)。電子脈沖的大小與樣品中分析離子的濃度有關(guān)。通過與己知濃度的標(biāo)準(zhǔn)比較,實現(xiàn)未知樣品的痕量元素的定量分析。
ICP-MS由于在速度、靈敏度、動態(tài)范圍和元素測量范圍中的優(yōu)勢而處于無二的地位。能夠快速測量高濃度的元素(ppb到ppm級)的特點使其成為AES的可行的替代方法。同時ICP-MS在許多痕量和超痕量元素測定中超越了石墨爐原子吸收光譜法(GFAAS)的檢出能力(ppt級),ICP-MS能測量幾乎所有的樣品,并且實現(xiàn)了一次采集完成多元素同時測定,同時提供同位素的信息。形態(tài)分析是ICP-MS發(fā)展的領(lǐng)域之一,即色譜技術(shù)與ICP-MS的聯(lián)用。其中ICP-MS作為檢測器測定樣品中元素的化學(xué)價態(tài)。這些性能有助于實現(xiàn)ICP-MS在所有領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用,而且確立了ICP-MS在痕量金屬檢測技術(shù)中的首要地位。
(文本來源于網(wǎng)絡(luò))