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普賽斯模塊三溫測試平臺(PSS MDT12023)支持工業(yè)級低溫、常溫、高溫溫控,亦支持商溫溫控,滿足SFP、QSFP、QSFP-DD封裝模塊使用,可擴展多類封...
普賽斯模塊測試板可針對不同封裝類型的光模塊進行測試,測試板可靠性高,重復性好,信號質(zhì)量佳。模塊IIC引腳引出,滿足客戶自行連接測試,同時也可選配測試盒,起靜電防...
本設(shè)備應(yīng)用于光芯片LD-CHIP高溫/常溫LIV測試、SMSR測試及背光抽測并對不同測試結(jié)果進行歸類分檔篩選。芯片wafer藍膜上料,CHIP-ID自動識別記憶...
PSS COCT2000支持COC器件(支持DFB/EML/Tunable)常溫和高溫下的LIV綜合測試和光譜測試。與我司COC老化系統(tǒng)配套使用,通過老化前后測...
普賽斯COCBI老化系統(tǒng)為高功率COC老化系統(tǒng),支持大電流、窄脈沖加電老化,用于COC芯片在高溫,穩(wěn)定電流條件的長時間可靠性實驗,支持前光功率檢測,軟件實時監(jiān)測...
LD集成式老化系統(tǒng),用于各種類型封裝LD器件的老化篩選以及可靠性壽命分析。該系統(tǒng)可以通過軟件配置管腳定義并提供高達500mA的驅(qū)動電流以及150℃高溫老化條件,...
普賽斯EML TO集成式老化測試系統(tǒng) 用于EML TO器件的老化篩選以及可靠性壽命分析。系統(tǒng)支持1536路器件老化,通過外部環(huán)境控溫或?qū)ζ骷?nèi)部TEC進行高溫控...
普賽斯時鐘數(shù)據(jù)恢復系列是高性能、高性價比CDR模塊產(chǎn)品,它可以從光模塊或背板等環(huán)境數(shù)據(jù)信號中提取出時鐘、數(shù)據(jù)信號,系列產(chǎn)品覆蓋100Mbps~28.05Gbps...
普賽斯時鐘數(shù)據(jù)恢復系列是高性能、高性價比CDR模塊產(chǎn)品,它可以從光模塊或背板等環(huán)境數(shù)據(jù)信號中提取出時鐘、數(shù)據(jù)信號,系列產(chǎn)品覆蓋100Mbps~28.05Gbps...
普賽斯大功率窄脈沖抽屜式老化系統(tǒng)主要用于Lidar 激光器在一定溫度條件下進行脈沖加電老化,不同的老化抽屜可滿足不同封裝的Lidar 激光器的老化需求,一個老化...
普賽斯大功率TO抽屜式老化系統(tǒng)主要用于大功率激光器在一定溫度條件下進行加電老化,不同的老化抽屜可滿足不同封裝激光器(如TO9,TO56、COS等)的老化需求,一...
普賽斯LD集成式老化設(shè)備,用于小功率可見光LD TO器件的老化篩選以及可靠性壽命分析,篩選后有效提高TO產(chǎn)品的質(zhì)量。系統(tǒng)可支持3072路器件的老化,通過給LD器...
普賽斯光模塊集成式老化系統(tǒng)(PSS MBS12016/22016/32016)用于光模塊的老化篩選以及可靠性分析。該系統(tǒng)提供3~4V恒壓以及120℃高溫老化條件...
老化測試板用于TO的整盤老化、測試,以及自動分選。普賽斯老化測試板,可以兼容后端老化,測試,分選工藝,提高生產(chǎn)效率。
為了提高光器件的可靠性,光器件在TO封裝前會經(jīng)過性能測試,避免不良器件流入下一個生產(chǎn)環(huán)節(jié)而帶來人力、物力損失。武漢普賽斯TO-46自動測試系統(tǒng)主要用來自動測試6...
PSS TO三溫測試系統(tǒng)支持TO工業(yè)級低溫、常溫、高溫測試,溫度控制范圍為-40℃~85℃,適用于VCSEL/FP/DFB-TOCAN的自動測試,支持器件任意引...
窄脈沖TO測試系統(tǒng)主要應(yīng)用于TO的LIV、光譜、發(fā)散角自動測試,設(shè)備支持TO/COB自動上料、自動下料,可兼容客戶使用的上下料載具,測試工作臺支持溫度控制,可實...
普賽斯15G誤碼高速儀支持622M-15G高速信號的誤碼性能分析儀,BERT13441支持XFP、SFP+光接口及兩路電發(fā)電收共四路高速信號。能夠自定義各種不同...
普賽斯40G誤碼高速儀支持四路622M-15G高速信號的誤碼性能分析儀。BERT15441主要功能是測量高速通信模塊的性能,提供四個可獨立工作的15G電信號速率...
普賽斯100G高速誤碼測試系統(tǒng)(PSS BERT17442)是一款100G高速信號的誤碼性能分析儀,支持10G-32G速率,4路PPG,4路ED收發(fā)端信號可以同...
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