X射線粉末衍射儀產(chǎn)品參數(shù)：

　　X射線粉末衍射儀在多個領(lǐng)域發(fā)揮著重要作用，包括文物保護(hù)與考古研究、材料物相鑒定、爆炸物檢測、石油鉆探分析、頁巖氣開發(fā)、地質(zhì)勘探、全巖礦物組成分析以及耐火材料和陶瓷材料的物相分析等方面。

　　突出優(yōu)勢：

　　簡化的樣品處理流程：傳統(tǒng)臺式XRD設(shè)備往往需要檢測人員投入大量時間進(jìn)行樣品采集和預(yù)處理，要求將大量樣品研磨成細(xì)粉并精心壓制成小球狀。樣品研磨過細(xì)或壓制力度過大都可能導(dǎo)致樣品制備效應(yīng)，比如擇優(yōu)取向問題。觀世XRD分析儀僅需15毫克樣品即可獲得準(zhǔn)確檢測結(jié)果，配套的樣品工具包讓制備過程變得簡單快捷。

　　同步檢測技術(shù)：傳統(tǒng)臺式XRD設(shè)備獲取每個2-theta測量值需要數(shù)秒時間，完成全部測量可能耗時數(shù)小時。觀世XRD分析儀配備電荷耦合裝置(CCD)探測器，能夠同步獲取所有2-theta測量值，使完整衍射圖形幾乎即時呈現(xiàn)在屏幕上。

　　二維X射線衍射功能：多數(shù)XRD設(shè)備采用X射線探測器僅能捕捉樣品單一平面脫落的光子，實現(xiàn)一維實驗。觀世XRD分析儀配備的電荷耦合裝置(CCD)探測器可以采集衍射環(huán)切片，幫助用戶判斷樣品制備是否正確(粒子統(tǒng)計和/或晶粒擇優(yōu)取向)。依靠這些信息，用戶能夠驗證獲得的定量數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性和代表性。

　　透射幾何設(shè)計：與傳統(tǒng)大型XRD設(shè)備采用反射幾何技術(shù)不同，觀世XRD分析儀在X射線束穿透樣品的位置運(yùn)用透射幾何技術(shù)。樣品池中樣品量保持恒定，所以樣品密度變化不會影響分辨率。這一特性對低密度材料尤為重要，如藥物樣品，在穿透性能固定的情況下，相比基于反射幾何技術(shù)的設(shè)備，我們的儀器能夠獲得更高的分辨率。

　　能量分辨X射線探測器：大型傳統(tǒng)臺式XRD設(shè)備通常無法使用對能量敏感的探測器，因此探測器會受到XRD實驗中未使用光子的干擾。相較之下，觀世XRD分析儀能夠排除那些未直接參與X射線衍射實驗的光子，如X射線熒光光子，從而提供更優(yōu)質(zhì)的信噪比模式。

　　鈷靶和銅靶射線管選擇：觀世XRD分析儀標(biāo)準(zhǔn)配置配備堅固耐用的鈷(Co)靶材X射線管。這種陽極射線管深受地質(zhì)學(xué)家和礦物學(xué)家歡迎，因為在分析鐵(Fe)含量較高的樣品時表現(xiàn)出色。不過，在某些特定應(yīng)用中(如樣品中錳含量很高)，需要使用銅(Cu)靶材X射線管。根據(jù)用戶具體應(yīng)用需求，觀世可以提供這兩種陽極靶材X射線管的任意一種。