卡倫測控技術(shù)（無錫）有限公司成立于 2011 年，公司注冊資金 2000 萬。現(xiàn)在江蘇無錫·中國電子(無錫)數(shù)字芯谷擁有 3800 平生產(chǎn)制造基地和研發(fā)電子實驗室。全體員工通過十幾年的專業(yè)科研、高?？蒲谐晒D(zhuǎn)化以及技術(shù)引進(jìn)合作，在試驗方法均滿足 GB、GJB、MIL、JIS、IEC、ATE、AEC 等相關(guān)試驗標(biāo)準(zhǔn)篩選要求及規(guī)定下，一直致力于可靠性環(huán)境模擬試驗設(shè)備、可靠性老化測試設(shè)備、低溫恒溫專用設(shè)備研發(fā)、生產(chǎn)、銷售并為客戶提供行業(yè)整體解決方案。
公司產(chǎn)品分為兩大模塊。一.可靠性試驗設(shè)備，幾乎覆蓋所有電子元器件可靠性試驗，是國內(nèi)可靠性試驗設(shè)備產(chǎn)品線齊全的供應(yīng)商。設(shè)備有：芯片氣體沖擊、步入式試驗室、超快速冷熱沖擊試驗機、恒溫恒濕試驗箱、應(yīng)力篩選試驗箱、冷熱沖擊試驗設(shè)備、氣體式?jīng)_擊試驗機、液態(tài)沖擊試驗箱、耐候試驗設(shè)備、快速溫變試驗箱、高溫老化室、老化測試室、低氣壓試驗機、QUV 紫外線老化試驗機、淋雨試驗箱、沙塵試驗箱、鹽水噴霧試驗機等。二．可靠性老化測試設(shè)備，如高溫反偏老化系統(tǒng)（HTRB)、高溫高濕反偏老化系統(tǒng)（H3TRB)、間歇式功率循環(huán)試驗系統(tǒng)（IOL)、HTOL 集成電路高溫動態(tài)老化測試系統(tǒng)、HAST 高加速壽命偏壓老化測試系統(tǒng)、IGBT 模塊高溫反偏老化測試系統(tǒng)、HTGB 高溫柵反偏老化測試系統(tǒng)、高精密導(dǎo)通電阻測試系統(tǒng)等。
卡倫測控技術(shù)(無錫)有限公司目前已發(fā)布的產(chǎn)品涉及多個品類，其中包含了：
可靠性環(huán)境模擬試驗設(shè)備
、 MEMS標(biāo)定(量產(chǎn)、工程驗證）
、 溫濕度檢定箱
、 半導(dǎo)體芯片可靠性測試設(shè)備
......更多分類可查看商鋪產(chǎn)品列表
成立時間：2011年7月29日[已認(rèn)證]
注冊資本： 2000萬元
[已認(rèn)證]
經(jīng)營范圍：一般項目:智能儀器儀表制造;光學(xué)儀器制造;實驗分析儀器制造;儀器儀表制造;通信設(shè)備制造;光通信設(shè)備制造;專用設(shè)備制造(不含許可類專業(yè)設(shè)備制造);半導(dǎo)體器件專用設(shè)備制造;電子測量儀器制造;儀器儀表銷售;智能儀器儀表銷售;計算機軟硬件及輔助設(shè)備零售;工業(yè)自動控制系統(tǒng)裝置銷售;光通信設(shè)備銷售;電子產(chǎn)品銷售;半導(dǎo)體器件專用設(shè)備銷售;光電子器件銷售;儀器儀表修理;技術(shù)服務(wù)、技術(shù)開發(fā)、技術(shù)咨詢、技術(shù)交流、技術(shù)轉(zhuǎn)讓、技術(shù)推廣;機械設(shè)備研發(fā);工程和技術(shù)研究和試驗發(fā)展;5G通信技術(shù)服務(wù),軟件開發(fā);貨物進(jìn)出口;技術(shù)進(jìn)出口;機械零件、零部件加工;實驗分析儀器銷售;光學(xué)儀器銷售(除依法須經(jīng)批準(zhǔn)的項目外憑營業(yè)執(zhí)照依法自主開展經(jīng)營活動)[已認(rèn)證]
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