手持式光譜儀在實際工作中測量的樣品通常由多種元素組成，除被測元素外的元素統(tǒng)稱為矩陣。由于待測樣品的基質(zhì)成分發(fā)生了變化（該變化是指元素的變化和含量的變化），手持式光譜儀直接影響待測元素的特征X射線強度的測量。

光纖光譜儀廠家介紹，當待測元素的含量相同時，由于其不同的基質(zhì)成分，待測元素特征X射線強度不同，這是基質(zhì)效應。基質(zhì)效應是X射線熒光定量分析的主要誤差源之一。矩陣效應是不可避免的客觀事實。其物理本質(zhì)是由激發(fā)（吸收）和散射引起的特征X射線強度的變化。

除待測元素外，基質(zhì)中靠近被測元素的那些元素對激發(fā)源射線和被測元素特征X射線的光電效應遠大于輕元素（地質(zhì)樣品中常見的一些主要巖石形成元素），即，相鄰元件對由激發(fā)源發(fā)射的X射線和被測元件的特征X射線的吸收系數(shù)遠大于光元件。輕元素的康普頓散射概率遠大于元素的康頓散射概率。

手持式光譜儀的定性分析意味著，由于各種元素的原子結(jié)構(gòu)不同，它們可以在光源的作用下產(chǎn)生自己的特征光譜。如果在對樣品進行激發(fā)光譜分析后，板上出現(xiàn)幾行元素，則證明這些元素存在于樣品中。這種分析方法稱為光譜定性分析方法。

手持式光譜儀用于比較光譜分析的定性分析：該方法應用廣泛，包括標準樣品比較法和鐵譜比較法。標準樣品比較法通常適用于單一定性分析和有限分析。它不僅可以進行單次測定，而且易于進行完整的分析。手持式光譜儀光譜線波長測量方法：光譜分析儀器使用光譜線波長的測量方法進行定性分析，是首先測量光譜線的波長，然后查表確定元素的存在，這種方法在日常分析中很少使用，通常僅在頻譜或仲裁分析的準備中。