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JSM-F100集成了備受推崇的In-lens Schottky Plus Gun和電子光學(xué)控制系統(tǒng)Neo Engine，一個新開發(fā)的操作GUI“SEM Cen...

JSM-IT800具備高分辨觀察和高速元素面分析，能夠滿足客戶的各種需求。該裝置配備浸沒式肖特基場發(fā)射電子槍、新一代電子光學(xué)控制系統(tǒng)Neo Engine、一體化...

日常使用的SEM，好用！該設(shè)備分辨率1nm、探針電流300nA（之前的15倍），可提供豐富的觀測和分析信息，用戶界面操作簡單、設(shè)計緊湊、配備大樣品室。

掃描電子顯微鏡 (SEM) 不僅是開展科研工作所的工具，對于需要品控的制造工廠也是的。 在這些場景中，用戶需要重復(fù)執(zhí)行相同的觀察操作，因此快速完成這些操作有助于...

JEM-1400Flash配備了高靈敏度sCMOS相機、超廣視野的蒙太奇系統(tǒng)以及光學(xué)顯微鏡圖像的聯(lián)動功能，是一款新型的高通量、高分辨率 的120kV透射電子顯微...

場發(fā)射冷凍電子顯微鏡 JEM-Z200FSC CRYO ARM 200標(biāo)配冷場發(fā)射電子槍、柱體內(nèi)能量過濾器（Ω能量過濾器）、液氮冷卻樣品臺和12位自動樣品更換系...

“NEOARM" 標(biāo)配了日本電子獨自開發(fā)的冷場發(fā)射電子槍（Cold-FEG）和全新的高階球差校正器（ASCOR）。無論是在200kV的高加速電壓還是在30kV的...

場發(fā)射冷凍電子顯微鏡JEM-Z300FSC (CRYO ARM? 300)配備了冷場發(fā)射電子槍、柱體內(nèi)能量過濾器(Ω能量過濾器)、側(cè)插式液氮冷卻樣品臺和自動樣品...

JEM-ACE200F將JEM-ARM200F和JEM-F200的硬件技術(shù)整合在一起，實現(xiàn)了高度穩(wěn)定性和高分辨率，以精煉的外觀設(shè)計呈現(xiàn)。該設(shè)備做成了操作流程菜單...

JEM-ARM300F2是GRAND ARMTM的第二代產(chǎn)品，該設(shè)備在性能上有了進(jìn)一步的提高，無論采用怎樣的加速電壓都能獲得超高空間分辨率圖像和高靈敏度的元素分...

JEOL IDES 產(chǎn)品：飛秒級時間分辨率電子顯微鏡及其相關(guān)附屬設(shè)備。

CRYO ARM? 300 II 是一款低溫冷凍透射電子顯微鏡，專門用于觀察如蛋白質(zhì)等對電子束敏感的樣品，可進(jìn)行單顆粒分析、斷層掃描和MicroED等實驗。與上...

JBX-6300FS的電子光學(xué)系統(tǒng)在100kV的加速電壓下能自動調(diào)整直徑為（計算值）2.1nm的電子束，簡便地描畫出線寬在8nm以下（實際可達(dá)5nm）的圖形。此...

JBX-9500FS是一款100kV圓形束電子束光刻系統(tǒng)，兼具高水平的產(chǎn)出量和定位精度，能容納300mmφ的晶圓片和6英寸的掩模版，適合納米壓印、光子器件、通信...

JBX-3200MV是用于制作28nm～22/20nm節(jié)點的掩模版/中間掩模版（mask/reticle）的可變矩形電子束光刻系統(tǒng)。的技術(shù)實現(xiàn)了高速、高精度和高...

JBX-3050MV 是用于制作45nm～32nm 節(jié)點的掩模版/中間掩模版（mask/reticle）的可變矩形電子束光刻系統(tǒng)。的技術(shù)實現(xiàn)了高速、高精度和高可...

高精密JBX-8100FS圓形電子束光刻系統(tǒng)，通過的設(shè)計優(yōu)化，實現(xiàn)更簡便的操作，更快的刻寫速度，更小的占地面積和安裝空間，并且更加綠色節(jié)能。

Alpha 帶您進(jìn)入質(zhì)譜的新世界。我們推出的 JMS-T2000GC “AccuTOF™ GC-Alpha"，是一款具有的性能和易操作的GC-MS。

JEOL 的專有技術(shù)實現(xiàn)了高速和高靈敏度分析。JMS-TQ4000GC 的開發(fā)凝聚了 JEOLGC-MS 開發(fā)過程中所形成的所有技術(shù)和經(jīng)驗。

全新 JMS-Q1600GC UltraQuad? SQ-Zeta 是融合 JEOL 50 年 MS 技術(shù)及專業(yè)經(jīng)驗的第六代 JEOL 氣相色譜四極桿質(zhì)譜儀 (...