詳細(xì)摘要： 千宇光學(xué)高精度反射式膜厚儀采用非接觸測(cè)量，支持單層及多層膜厚、反射率等分析。基于光譜干涉原理，廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、光伏及顯示領(lǐng)域，具備便攜設(shè)計(jì)與靈活配置。
產(chǎn)品型號(hào)：RT-100所在地：蘇州市更新時(shí)間：2026-09-03 在線留言
蘇州千宇光學(xué)科技有限公司
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詳細(xì)摘要： 千宇光學(xué)高精度反射式膜厚儀采用非接觸測(cè)量，支持單層及多層膜厚、反射率等分析。基于光譜干涉原理，廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、光伏及顯示領(lǐng)域，具備便攜設(shè)計(jì)與靈活配置。
產(chǎn)品型號(hào)：RT-100所在地：蘇州市更新時(shí)間：2026-09-03 在線留言
詳細(xì)摘要： PLM-100S相位差貼合角測(cè)試儀一款偏光片 / 光學(xué)膜專用高精度光學(xué)性能測(cè)試儀，專為光電顯示、光學(xué)材料、半導(dǎo)體等領(lǐng)域設(shè)計(jì)，可快速、精準(zhǔn)完成偏振光學(xué)核心參數(shù)檢測(cè)...
產(chǎn)品型號(hào)：PLM100S所在地：蘇州市更新時(shí)間：2026-05-18 在線留言
詳細(xì)摘要： 偏光片吸收軸角度測(cè)試儀PLM-10S采用高精度Muller矩陣可解析多層相位差，是對(duì)吸收軸角度、快慢軸角度、相位差、偏光度、色度及透過率等進(jìn)行高精密測(cè)量的一體化...
產(chǎn)品型號(hào)：PLM-10S所在地：蘇州市更新時(shí)間：2026-04-23 在線留言
詳細(xì)摘要： PLM系列相位差測(cè)量?jī)x采用高精度Muller矩陣可解析多層相位差，是對(duì)吸收軸角度、快慢軸角度、相位差、偏光度、色度及透過率等進(jìn)行高精密測(cè)量；是結(jié)合偏光解析和一般...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：蘇州市更新時(shí)間：2026-04-23 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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