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閱讀：18發(fā)布時(shí)間：2026-5-13
電容漏電原因測(cè)量方式
IR（Insulation Resistance，絕緣電阻）是電容器中的電介質(zhì)材料電阻漏電流的程度。它是電介質(zhì)材料本身的電阻*1。IR可通過漏電流來測(cè)量。知道漏電流和外加電壓，即可根據(jù)歐姆定律計(jì)算絕緣電阻。測(cè)量漏電流有兩種基本方式。首先，用一個(gè)與電容器和電壓源串聯(lián)的電流表（圖1）。
其次，用一個(gè)與電阻器并聯(lián)的伏特計(jì)，然后串聯(lián)連接到電容器和電壓源（圖2）。
個(gè)方法通常適用于小于1uF的電容器。低電容量電容器具有低漏電流，因此，低電流電表可以準(zhǔn)確測(cè)量電流。如果漏電流高，由于充電電容器的噪音和不穩(wěn)定性，電表將不能準(zhǔn)確測(cè)量。因此，對(duì)于高容値電容器應(yīng)使用第二種方法
電容器是電路或電力設(shè)備中的一部分。而且電容器的種類很多，瓷片電容器就是其中之一。電容之所以會(huì)漏電，因?yàn)殡娙輧蓸O之間的介電材質(zhì)不可能是絕緣的，只能是相對(duì)絕緣，因此有些電容存在漏電流。
什么是電容漏電流？對(duì)電容器施加額定直流工作電壓將觀察到充電電流的變化開始很大，隨著時(shí)間而下降，到某一終值時(shí)達(dá)到較穩(wěn)定狀態(tài)這一終值電流稱為漏電流。
電容都有漏電流嗎？一般電解電容器的漏電流較大，其他電容器的漏電流很小。特別是薄膜電容，優(yōu)質(zhì)的薄膜電容漏電流都很小，對(duì)電路影響不大。
電容漏電流大小與哪些因素有關(guān)？
1、與直流電壓關(guān)系最密切。漏電流大小與施加的直流電壓有關(guān)，隨著施加的電壓越大，漏電流越大。同時(shí)與施加直流電壓的時(shí)間有關(guān)系，時(shí)間越長(zhǎng)，漏電流就越小。
2、與電容的容量大小關(guān)系也很密切。電容的容量也是影響電容的漏電流的因素之一，容量越大漏電流就越大。
小編提醒：使用電解電容的時(shí)候，需要考慮電容的漏電流大小，但對(duì)于薄膜類電容，由于漏電流很小，基本上不會(huì)影響電路的正常運(yùn)行。
電解電容器時(shí)間用長(zhǎng)后就會(huì)出現(xiàn)漏電現(xiàn)象，附圖所示的電路能讓你測(cè)試電容器的漏電，并且決定它們是否值得使用，可以通過CREF/RREF的比值抑制泄漏。
附圖中的比值適用于從1納法的陶瓷電容器到1000微法的電解電容器等所有電容器的通用測(cè)試。電路中CREF的數(shù)值與待測(cè)電容器CX的數(shù)值相近，也可以通過一個(gè)旋轉(zhuǎn)開關(guān)選擇RREF，使其大于或小于22MΩ。
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