外觀設(shè)計(jì)專利證書(shū)-音叉密度計(jì)(二)
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- 發(fā)證機(jī)構(gòu)：
- 國(guó)家知識(shí)產(chǎn)權(quán)局
- 生效日期：
- 2023-08-22
- 截止日期：
- 2033-03-21
認(rèn)證簡(jiǎn)介：
外觀設(shè)計(jì)名稱:音叉密度計(jì)(二)
設(shè)計(jì)人:潘保國(guó)
專利號(hào):ZL202330140513.2
專利申請(qǐng)日:2023年03月22日
專利權(quán)人:安克智控科技(天長(zhǎng))有限公司
地址:239300安徽省滁州市天長(zhǎng)市經(jīng)三路高新技術(shù)服務(wù)中心
授權(quán)公告日:2023年08月22日
授權(quán)公告號(hào):CN308185065S