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更新時間:2018-05-14 09:00:00瀏覽次數(shù):408次
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6.35mm單點(diǎn)反射測量支架
單點(diǎn)反射測量支架是一個探頭支架,用于厚度達(dá)150mm的光學(xué)層和其它基底的反射測量。 這一探頭支架適于固定直徑達(dá)6.35mm的光學(xué)探頭和其它取樣設(shè)備,可以在一個不銹鋼支柱上上下滑行,調(diào)節(jié)高度可達(dá)63.5mm。反射臺是電鍍臺面,表面刻有同心圓以確定直徑,用于放置圓形樣品。
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