HAST 試驗箱 PCB 電路板濕熱老化測試 參考價：36000
HAST 試驗箱 PCB 電路板濕熱老化測試，用105~130℃、85%RH、1.2~2.3atm非飽和高壓蒸汽，數(shù)天等效雙85千小時，專測主板、FPC、BGA...
芯片 HAST 老化箱 BGA 模塊應(yīng)力測試 參考價：36000
芯片 HAST 老化箱 BGA 模塊應(yīng)力測試，110~130℃、85%RH、230kPa非飽和高壓蒸汽，96h等效85/85千小時級老化，專暴露BGA塑封分層、...
HAST試驗箱 半導體 IC可靠性測試 參考價：36000
HAST試驗箱 半導體 IC可靠性測試，105~155℃、85%RH、0.02~0.29MPa非飽和蒸汽，數(shù)天等效千小時85/85。專曝塑封IC分層、金線腐蝕、...
集成電路 HAST 箱芯片引腳塑封器件老化測試 參考價：36000
集成電路 HAST 箱芯片引腳塑封器件老化測試專做IC塑封體抗?jié)窦铀伲?30℃/85%RH/2.3atm非飽和加壓蒸汽，溫濕壓獨立解耦。PT100配壓力變送器雙...
高加速應(yīng)力試驗箱 BGA QFP 封裝模塊測試機 參考價：50000
高加速應(yīng)力試驗箱 BGA QFP 封裝模塊測試機把快速溫變與高頻振動疊進同腔，單層放BGA主板單層放QFP驅(qū)動器對比。PID加液氮噴霧調(diào)功，冷媒旁通節(jié)能，觸屏編...
HAST高壓加速老化箱晶圓塑封器件可靠性試驗 參考價：36000
HAST高壓加速老化箱晶圓塑封器件可靠性試驗把高溫高濕高壓三應(yīng)力疊進耐壓腔，SUS316L內(nèi)膽抗P離子析出腐蝕。飽和蒸汽直接加壓，低溫段無需制冷。適配塑封分層、...
半導體 HAST 老化箱 MCU 存儲芯片濕熱測試 參考價：50000
半導體 HAST 老化箱 MCU 存儲芯片濕熱測試把高溫高濕高壓疊進小容積壓力釜，?？絾栦X互連腐蝕、鈍化層針孔、塑封吸濕爆米花。升溫25→132℃約35min，...
HAST 試驗箱 IC 芯片 BGA 封裝應(yīng)力試驗機 參考價：36000
HAST 試驗箱 IC 芯片 BGA 封裝應(yīng)力試驗機面向封測線BGA/Flip-Chip潮敏分級，在SMC溫濕底座上升級圓筒壓力容器、鈦管蒸汽與溫濕壓解耦閉環(huán)，...
集成電路行業(yè)HAST試驗箱 參考價：36000
集成電路行業(yè)HAST試驗箱面向封測與芯片可靠性科室，在SMC溫濕平臺上升級圓筒耐壓腔、鈦管蒸汽發(fā)生與壓力閉環(huán)，覆蓋105~147℃、最高0.392MPa表壓的非...
高壓蒸煮老化試驗機 參考價：20000
高壓蒸煮老化試驗機以飽和蒸氣壓力加速水汽滲透，在121℃、0.2MPa表壓工況下快速暴露封裝氣密與金屬化缺陷，把千小時濕熱驗證壓縮至數(shù)十小時。圓筒SUS316腔...
小型HAST高壓加速老化箱 參考價：50000
小型HAST高壓加速老化箱面向研發(fā)臺面與來料快篩場景，把105~147℃、最高0.3MPa表壓的非飽和高壓濕熱壓縮進緊湊圓筒機身。設(shè)備繼承SMC系列威碩觸控與冷...
半導體 HAST 老化箱 參考價：50000
半導體 HAST 老化箱用105~147℃、85%RH、0.2~0.3MPa非飽和高壓蒸汽，數(shù)十小時復(fù)現(xiàn)85/85上千小時失效，專測IC封裝分層、鍵合腐蝕、CA...
HAST 試驗箱，壓力 0.13?0.23MPa 參考價：50000
HAST 試驗箱，壓力 0.13?0.23MPa把高溫高濕高壓三應(yīng)力疊進耐壓腔，SUS316內(nèi)膽抗氯離子腐蝕。安全聯(lián)鎖+雙閥泄壓，低溫段不凝露。適配封裝耐濕、引...
HAST 試驗箱相對濕度 85?100% RH 參考價：50000
HAST 試驗箱相對濕度 85?100% RH為高壓加速老化試驗箱（HAST），相對濕度范圍85～100%RH，溫度最高可達142℃，飽和蒸汽壓力環(huán)境可大幅縮短...
HAST溫度 105?132℃試驗箱 參考價：36000
HAST溫度 105?132℃試驗箱把高溫高濕高壓三應(yīng)力疊進圓筒高壓腔，去離子水盤電加熱生蒸汽、外氣源補壓可選。門壓聯(lián)鎖未歸零鎖死，缺水超溫超壓三重斷電器。適配...
高加速應(yīng)力試驗機 參考價：36000
高加速應(yīng)力試驗機面向IC、分立器件、功率模塊的uHAST與HAST批量驗證，單層放老化板單層放托盤對比。SUS316L內(nèi)膽抗Cl離子腐蝕，自動補水防干燒，觸屏編...
HAST 試驗箱多段程序 + 壓力可控高配款 參考價：36000
HAST 試驗箱多段程序 + 壓力可控高配款面向半導體封裝、車規(guī)IC、PCBA及光伏接線盒的濕氣滲透與電化學遷移加速驗證。溫濕壓三參數(shù)獨立閉環(huán)，支持105~14...
HAST高壓加速老化試驗箱 參考價：36000
HAST高壓加速老化試驗箱在SMC系列溫濕平臺上升級圓筒耐壓腔與蒸氣壓力閉環(huán)，構(gòu)建105~147℃、最高0.3MPa表壓的非飽和高壓濕熱環(huán)境，把常規(guī)85/85試...
高壓加速老化試驗箱 參考價：28000
高壓加速老化試驗箱，專為電子元器件、半導體、集成電路、PCB、連接器、光伏組件及新材料等領(lǐng)域的可靠性測試而設(shè)計-。該設(shè)備通過精準模擬并強化高溫、高壓、高濕（非飽...
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