數(shù)顯式磁性測(cè)厚儀,建科

QUC-200數(shù)顯式磁性測(cè)厚儀

測(cè)定磁性材料基體上非磁性涂鍍層厚度，于磁性材料基本表面非磁性涂鍍層厚度測(cè)定。機(jī)內(nèi)備有充電電池，便于涂裝施工現(xiàn)場(chǎng)應(yīng)用。

數(shù)顯式磁性測(cè)厚儀主要技術(shù)參數(shù)

測(cè)量范圍： 0-200μm

測(cè)量精度： ±（0.7μm+3%H）

注：H為標(biāo)稱(chēng)值

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