詳細(xì)摘要: *平行平晶是以光波干涉原理為基礎(chǔ),利用平行平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來測量被測量面的誤差程度
產(chǎn)品型號:所在地:南京市更新時間:2022-11-29 在線留言南京蘇量檢測儀器設(shè)備有限公司
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