X熒光測厚儀是一種功能*的材料涂/鍍層測量儀器，可應用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領(lǐng)域，為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供準確、快速的分析?；谖④浿形囊暣跋到y(tǒng)的中文版應用軟件包，實現(xiàn)了對CMI主機的全面自動化控制，分析中不需要任何手動調(diào)整或手動參數(shù)設(shè)定?？赏瑫r測定多種元素。數(shù)據(jù)統(tǒng)計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式，以滿足特定分析報告格式要求；如在分析報告中插入數(shù)據(jù)圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。統(tǒng)計功能提供數(shù)據(jù)平均值、誤差分析、大值、小值、數(shù)據(jù)變動范圍、相對偏差等多種數(shù)據(jù)分析模式。

　　1.濾光片程控交換系統(tǒng)：

　　根據(jù)靶材，標準裝備有相應的一次X射線濾光片系統(tǒng)；

　　二次X射線濾光片：Co、Ni、Fe、V等多種材質(zhì)、多種厚度的二次濾光片任選；

　　位置傳感器保護裝置，防止樣品碰創(chuàng)探測器窗口。

　　2.準直器程控交換系統(tǒng)：

　　多可同時裝配6種規(guī)格的準直器，程序交換控制。

　　3.X射線探測系統(tǒng)：

　　封氣正比計數(shù)器；

　　裝備有峰漂移自動校正功能的高速信號處理電路。

　　4.樣品觀察系統(tǒng)：

　　高分辨、彩色、實時CCD觀察系統(tǒng)，標準放大倍數(shù)為30倍；

　　50倍和100倍觀察系統(tǒng)任選。

　　5.激光輔助光自動對焦功能

　　可變焦距控制功能和固定焦距控制功能。