聚乙烯紫外老化試驗(yàn)機(jī).cn由于其良好的電氣性能而廣泛應(yīng)用于電介質(zhì)領(lǐng)域，如有很大禁帶寬度的絕緣體（約為8.8eV），再加上的機(jī)械性能。因此，對(duì)聚合物材料的化學(xué)和形態(tài)學(xué)特性特別是聚乙烯進(jìn)行研究引起廣泛興趣[，因?yàn)檫@些與材料內(nèi)的電荷傳輸和電導(dǎo)機(jī)理有關(guān)，而這些機(jī)理是聚合物電荷傳輸和壽命模型的基礎(chǔ)。
　　聚合物是由多個(gè)重復(fù)單體如碳?xì)浣M成的高分子長鏈，其能帶結(jié)構(gòu)可從與其結(jié)構(gòu)很相似的石蠟烴類獲得（CnHn+2），如甲烷，乙烷，丙烷和丁烷，從甲烷到聚乙烯軌道能級(jí)分布，分離的電子的軌道能級(jí)距離雖分子量增加而越來越小，后形成理想的連續(xù)能帶如半導(dǎo)體中的價(jià)帶和導(dǎo)帶。同樣可看到聚乙烯有很大的禁帶寬度（~8.8eV）,這說明在價(jià)帶端和導(dǎo)帶底端沒有足夠的能級(jí)水平使得電荷躍遷。
　　理論上這使得聚乙烯成為的絕緣體。但實(shí)際由于其他來源，如雜質(zhì)和化學(xué)無序構(gòu)象（如聚乙烯的非結(jié)晶區(qū)特性）變得更加復(fù)雜，這些能夠通過引入局域能級(jí)而支持/傳輸載流子?？紤]聚乙烯的物理，化學(xué)無序性以及對(duì)電荷傳輸?shù)挠绊?，更加?shí)際的能帶示意圖如下圖1.2所示，是在禁帶中引入局域能級(jí)。束縛在這些局域態(tài)的能量對(duì)應(yīng)于文獻(xiàn)中的陷阱，并在圖1.2中分成淺陷阱和深陷阱。
　　淺陷阱存在與價(jià)能帶附近，而深陷阱遠(yuǎn)離導(dǎo)帶狀態(tài)。電子空帶可能會(huì)捕獲電子，而電滿臺(tái)作為空穴陷阱。這些狀態(tài)因此控制了電荷在絕緣體中移動(dòng)的能力，如是固體電介質(zhì)中的電荷傳輸/積累形成的原因。由于淺陷阱被束縛在禁帶電荷傳輸邊緣的局域態(tài)附近，如電荷入陷/脫陷機(jī)理，比深陷阱變化更快。

　　紫外老化試驗(yàn)機(jī)這將會(huì)導(dǎo)致注入電荷從電極一端到另外一段的快速轉(zhuǎn)化。深陷阱位于禁帶能隙的中心附近，因此需要更多的能量釋放其中的電荷，因此電荷在材料中傳輸需要更長的時(shí)間。相比淺陷阱，電荷也需要更長的時(shí)間釋放足夠的能量進(jìn)入到深陷阱。認(rèn)為淺陷阱和深陷阱分別與物理/形態(tài)和化學(xué)缺陷有關(guān)。
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