我們使用鹽霧腐蝕試驗(yàn)箱對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行耐腐蝕試驗(yàn)時(shí)，為了保持試驗(yàn)結(jié)果的精確性肯定將所有可能會(huì)干擾到實(shí)驗(yàn)結(jié)果的因素都排除，那么有哪些因素可能會(huì)干擾到試驗(yàn)結(jié)果呢？科迪總結(jié)的四個(gè)主要的干擾源如下：
1、熱電動(dòng)勢(shì)影響
       熱電動(dòng)勢(shì)主要是由電路中的接點(diǎn)、線繞電位器動(dòng)點(diǎn)、電子元件引線和電路板布線等各種金屬的接合點(diǎn)之間的溫差產(chǎn)生的。
2、電源設(shè)備及電源線影響
       由于大多數(shù)的鹽霧腐蝕試驗(yàn)箱采用采用交流電源供電，通常交流電網(wǎng)的電壓有會(huì)有不同程度的波動(dòng)，且電網(wǎng)中的許多電感器件會(huì)帶來頻率污染，其中最主要的是工頻（50Hz）及高頻（調(diào)制波）干擾。
3、電氣型干擾（如光源設(shè)備、機(jī)械設(shè)備等）
       這些干擾源所產(chǎn)生的干擾信號(hào)頻帶寬、強(qiáng)度大，且具有隨機(jī)性，干擾性強(qiáng)，鹽霧腐蝕試驗(yàn)箱很容易受到影響，且不易被克服。
4、無線電波影響
       此類干擾源經(jīng)非線性元器件檢波后，產(chǎn)生電磁波感應(yīng)，從而影響到鹽霧腐蝕試驗(yàn)箱的測(cè)試精度。