可靠性強化鹽霧試驗箱試驗的技術(shù)從80年代末至90年代初，在各工業(yè)部門推廣的應用，無一例外地取得了很大的成功。但是名稱不統(tǒng)一。如從事引項技術(shù)研究的G.K.Hobbs.K.A.Gray和L.W.Condra等人，他們稱這種試驗為高加速壽命的試驗(Highly Accelerated Life Testing:HALT), 也有叫步進應力試驗(Step stess Testing :SST)、應力壽命試驗(Stress Life:STRIFE)以及應力裕度和強壯試驗(Stress Margin And Robustness Test:SMART)等。波音公司在應用該技術(shù)時，提出了RET(可靠性強化試驗)的概念。用可靠性強化試驗來統(tǒng)稱這類技術(shù)是較為合理的，國為它突出了強化的特點。

　　可靠性強化試驗(TET)的目的是通過施加高于實際的使用的環(huán)境應力、工作載荷，快速尋找產(chǎn)品設計的缺陷，以改進設計提高產(chǎn)品固有可靠性的水平，主要用于模塊級和單元級電子、機電產(chǎn)品，一般要求在產(chǎn)品研制階段早期的開展。可靠性強化試驗的理論基礎是故障的物理學(Physics of failure)，即把故障或軟的主要對象，通過發(fā)現(xiàn)、研究和故障達到提高可靠性的目的。高應力在很短的時間內(nèi)達到長的時間低應力作用的效果，同時又不會受試的樣品造成過應力損傷。可靠性強化的試驗首先通過施加超過產(chǎn)品可能承受限度的應力，促使?jié)撛诠收媳憩F(xiàn)崍，并確定產(chǎn)品的設計、正常操作和破壞的應力限，然后進行失效的分析直至找到故障的根本原因，確定所有故障的模式和相關(guān)的產(chǎn)品設計問題;最后進行改進并通過重新檢驗這種改進措施在失效的環(huán)境下的效果。可靠性強化的試驗的一般流程。
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