可靠性強(qiáng)化鹽霧試驗(yàn)箱試驗(yàn)的技術(shù)從80年代末至90年代初，在各工業(yè)部門(mén)推廣的應(yīng)用，無(wú)一例外地取得了很大的成功。但是名稱(chēng)不統(tǒng)一。如從事引項(xiàng)技術(shù)研究的G.K.Hobbs.K.A.Gray和L.W.Condra等人，他們稱(chēng)這種試驗(yàn)為高加速壽命的試驗(yàn)(Highly Accelerated Life Testing:HALT), 也有叫步進(jìn)應(yīng)力試驗(yàn)(Step stess Testing :SST)、應(yīng)力壽命試驗(yàn)(Stress Life:STRIFE)以及應(yīng)力裕度和強(qiáng)壯試驗(yàn)(Stress Margin And Robustness Test:SMART)等。波音公司在應(yīng)用該技術(shù)時(shí)，提出了RET(可靠性強(qiáng)化試驗(yàn))的概念。用可靠性強(qiáng)化試驗(yàn)來(lái)統(tǒng)稱(chēng)這類(lèi)技術(shù)是較為合理的，國(guó)為它突出了強(qiáng)化的特點(diǎn)。

　　可靠性強(qiáng)化試驗(yàn)(TET)的目的是通過(guò)施加高于實(shí)際的使用的環(huán)境應(yīng)力、工作載荷，快速尋找產(chǎn)品設(shè)計(jì)的缺陷，以改進(jìn)設(shè)計(jì)提高產(chǎn)品固有可靠性的水平，主要用于模塊級(jí)和單元級(jí)電子、機(jī)電產(chǎn)品，一般要求在產(chǎn)品研制階段早期的開(kāi)展?？煽啃詮?qiáng)化試驗(yàn)的理論基礎(chǔ)是故障的物理學(xué)(Physics of failure)，即把故障或軟的主要對(duì)象，通過(guò)發(fā)現(xiàn)、研究和故障達(dá)到提高可靠性的目的。高應(yīng)力在很短的時(shí)間內(nèi)達(dá)到長(zhǎng)的時(shí)間低應(yīng)力作用的效果，同時(shí)又不會(huì)受試的樣品造成過(guò)應(yīng)力損傷。可靠性強(qiáng)化的試驗(yàn)首先通過(guò)施加超過(guò)產(chǎn)品可能承受限度的應(yīng)力，促使?jié)撛诠收媳憩F(xiàn)崍，并確定產(chǎn)品的設(shè)計(jì)、正常操作和破壞的應(yīng)力限，然后進(jìn)行失效的分析直至找到故障的根本原因，確定所有故障的模式和相關(guān)的產(chǎn)品設(shè)計(jì)問(wèn)題;最后進(jìn)行改進(jìn)并通過(guò)重新檢驗(yàn)這種改進(jìn)措施在失效的環(huán)境下的效果?？煽啃詮?qiáng)化的試驗(yàn)的一般流程。
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