深圳市卓能達(dá)自動化測試技術(shù)有限公司
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更新時間:2018-05-15 14:44:36瀏覽次數(shù):424次
聯(lián)系我時,請告知來自 儀表網(wǎng)邊界掃描測試發(fā)展于上個世紀(jì)90年代,隨著大規(guī)模集成電路的出現(xiàn),印制電路板制造工藝向小,薄發(fā)展,傳統(tǒng)的ICT測試已經(jīng)沒有辦法滿足這類產(chǎn)品的測試要求。由于芯片的引腳多,元器件體積小,板的密度特別大,根本沒有辦法進(jìn)行下探針測試。
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邊界掃描測試(Boundary scan test)
邊界掃描測試發(fā)展于上個世紀(jì)90年代,隨著大規(guī)模集成電路的出現(xiàn),印制電路板制造工藝向小,微,薄發(fā)展,傳統(tǒng)的ICT測試已經(jīng)沒有辦法滿足這類產(chǎn)品的測試要求。由于芯片的引腳多,元器件體積小,板的密度特別大,根本沒有辦法進(jìn)行下探針測試。一種新的測試技術(shù)產(chǎn)生了,聯(lián)合測試行為組織(Joint Test Action Group)簡稱JTAG 定義這種新的測試方法即邊界掃描測試。被電工委員會收錄為IEEE1149.1-1990 邊界掃描測試測試訪問端口和邊界掃描結(jié)構(gòu)標(biāo)準(zhǔn)。該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了進(jìn)行邊界掃描測試所需要的硬件和軟件。自從1990 年批準(zhǔn)后,IEEE 分別于1993 年和1995 年對該標(biāo)準(zhǔn)作了補(bǔ)充,形成了現(xiàn)在使用的IEEE1149.1a-1993 和IEEE1149.1b-1994。JTAG 主要應(yīng)用于:電路的邊界掃描測試和可編程芯片的在線系統(tǒng)編程。
邊界掃描的測試原理:
圖中所示,芯片與芯片緊密著,IC與IC之間有大量的引腳關(guān)聯(lián),通過JTAG接口4條線,在軟件的控制下,就可以將IC的每個引腳的狀態(tài)讀取出來。TDI 為數(shù)據(jù)輸入端,TMS為模式控制端,TCK為時鐘控制端,TDO為數(shù)據(jù)輸出端。當(dāng)芯片工作于邊界掃描模式下,芯片就像是一個可編程的芯片,每個引腳都可控制,讀寫。邊界掃描測試軟件發(fā)出的掃描數(shù)據(jù)通過端口TDI進(jìn)入IC,結(jié)合模式控制端口TMS和時鐘控制端口 TCK,一個掃描周期里,數(shù)據(jù)輸出端口就獲取一段邊界掃描測試掃描數(shù)據(jù),邊界掃描測試通過分析比較輸入輸出數(shù)據(jù)等運(yùn)算,就可以判斷IC引腳的狀態(tài),不同模式,邊界掃描測試有不同的數(shù)據(jù)輸出,運(yùn)用不同的模式掃描,從而確定IC功能是否完好,焊接是否良好,是否有開短路。
一、邊界掃描測試系統(tǒng)硬件要求:
1.電腦
2.TAP 接口
3.電源和夾具
二、邊界掃描測試系統(tǒng)軟件要求:
1.JTAG驅(qū)動編程軟件,比如JTAG,ONTAP,Gopel等
2.邊界掃描測試開發(fā)軟件:比如 Labview,VB,C++等系統(tǒng)集成開發(fā)軟件
三、邊界掃描測試系統(tǒng)測試那些參數(shù):
1.Interconnection test 交聯(lián)性測試
2.Link test 連接測試
3.Flash memory test 閃存IC測試
4.DDRAM test 隨機(jī)存儲器測試
5.通過JATG 進(jìn)行非JTAG器件測試
四、開發(fā)邊界掃描測試系統(tǒng)需要那些文件:
PCBA是否可以用邊界掃描來測試,取決于PCBA上是否有支持JTAG功能的IC,除此之外,還需要提供如下基本文件:
1.BSDL file
2.Netlist
3.Schematic(circuit diagram)
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