深圳市卓能達自動化測試技術(shù)有限公司
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更新時間:2018-05-15 14:44:36瀏覽次數(shù):518次
聯(lián)系我時,請告知來自 儀表網(wǎng)1 MCU簡介及發(fā)展趨勢 MCU(Micr0 Controller Unit)微控制器,又稱單片微型計算機簡稱單片機,是隨著大規(guī)模集成電路的出現(xiàn)和發(fā)展,將計算機的CPU、RAM、ROM、定時器和多種I/O接[j集成在一片芯片上,形成芯片級的計算機,為不同的應(yīng)用場合做不同組合控制。
1 MCU簡介及發(fā)展趨勢 MCU(Micr0 Controller Unit)微控制器,又稱單片微型計算機簡稱單片機,是隨著大規(guī)模集成電路的出現(xiàn)和發(fā)展,將計算機的CPU、RAM、ROM、定時器和多種I/O接[j集成在一片芯片上,形成芯片級的計算機,為不同的應(yīng)用場合做不同組合控制。 MCU按其存儲器類型可分為MASK(掩模)ROM、OTP(一次性可編程)ROM、FLASH RO等類型,也可按其總線位數(shù)分為:4位、8位、16位、32位、64位等類型。目前,雖然隨著生產(chǎn)工藝和技術(shù)的進步,32位MCU的發(fā)展勢頭非常迅猛,但是從市場銷售來看,8位MCU的出貨量占到了55%以上,仍是MCU市場的主導(dǎo)產(chǎn)品。高集成度,多功能化,低成本以及小體積是MCU的發(fā)展趨勢。 現(xiàn)在的MCU大都集成RISC CPU CORE、ADC/DAC、ROM、FLASH、PLL電路等豐富的可供用戶使用的資源。(如圖1) 目前市場主流MCU已經(jīng)成為一種數(shù)字、模擬混合在一起的混合信號芯片,MCU產(chǎn)品集成越來越多的模擬功能和新的外圍電路成為MCU產(chǎn)品發(fā)展的重要方向,同時,這種發(fā)展趨勢也對MCU的測試提出了新的要求。 2 MCU的測試技術(shù) 針對MCU集成度的提高,要求對其各功能模塊的進行全面測試,要求涵蓋廣泛的功能測試,這才能保證MCU芯片的可靠性及穩(wěn)定性。 2.1 內(nèi)置高性能RISC CPU的測試 內(nèi)置高性能RISC CPU是MCU芯片的核心部分,低功耗高性能的RISC架構(gòu)被廣泛的應(yīng)用于目前MCU的設(shè)計,其發(fā)展的趨勢是:更高的執(zhí)行指令速度,更為豐富的指令功能,更為方便實現(xiàn)的應(yīng)用。 MCU內(nèi)置具有能進行高速數(shù)據(jù)處理的CPU內(nèi)核速度由早期的5 MHz提升至20 MHz以上,甚至已經(jīng)達到200 MHz,MCU的高性能RISC CPU內(nèi)核結(jié)構(gòu)也從12或14位寬指令集擴展為16位指令集。
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