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行業(yè)產(chǎn)品

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鉑悅儀器(上海)有限公司 廣州辦事處


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臺式微區(qū)X射線熒光光譜儀

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產(chǎn)品型號M1 MISTR

品       牌

廠商性質(zhì)代理商

所  在  地廣州市

聯(lián)系方式:市場部查看聯(lián)系方式

更新時間:2018-05-15 14:25:08瀏覽次數(shù):471次

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經(jīng)營模式:代理商

商鋪產(chǎn)品:61條

所在地區(qū):上海上海市

聯(lián)系人:市場部 (市場部助理)

產(chǎn)品簡介

臺式微區(qū)X射線熒光光譜儀

用于大件樣品與鍍層樣品的無損分析



無需任何準(zhǔn)備即可分析任何形狀的樣品

M1 MISTRAL是采用X射線熒光技術(shù)的光譜儀,可對大件樣品盒鍍層樣品進行準(zhǔn)確的分析。分析的元素范圍:原子序數(shù)Z=22(鈦)以上的所有元素。因此,它可以分析的物質(zhì)范圍較廣,譬如金屬、合金、金屬鍍層,包括多層鍍層樣品。

樣品尺寸zui大可達100x100x100mm,無需任何處理,直接放在樣品臺

詳細介紹

臺式微區(qū)X射線熒光光譜儀M1 MISTRAL

 

臺式微區(qū)X射線熒光光譜儀

用于大件樣品與鍍層樣品的無損分析

 

無需任何準(zhǔn)備即可分析任何形狀的樣品

M1 MISTRAL是采用X射線熒光技術(shù)的光譜儀,可對大件樣品盒鍍層樣品進行準(zhǔn)確的分析。分析的元素范圍:原子序數(shù)Z=22(鈦)以上的所有元素。因此,它可以分析的物質(zhì)范圍較廣,譬如金屬、合金、金屬鍍層,包括多層鍍層樣品。

樣品尺寸zui大可達100x100x100mm,無需任何處理,直接放在樣品臺上檢測。

光管位于樣品上方,測量過程中不接觸樣品,因此可以很容易地分析復(fù)式樣的樣品,如精工細作的珠寶或者不同厚度的樣品。

 

可以精確測量用戶的所需的位置

M1 MISTRAL的微焦斑X射線光管,即使光斑小到100μm也可以產(chǎn)生足夠的射線強度,光斑大小取決于所使用的準(zhǔn)直器。

采用視頻顯微鏡進行準(zhǔn)確定位,可以測量任何想測的位置??蛇x的計算機控制的自動樣品臺,并自動聚焦。

 

超快檢測系統(tǒng),迅速產(chǎn)生結(jié)果

M1 MISTRAL可配有兩種不同的X射線探測器:大面積充氣正比計數(shù)器,可用于質(zhì)量控制中的標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)用;或者配置硅漂移探測器,具有超快的檢測速度盒非常好的能量分辨率,檢出限可以達到0.01%(重量比)。*的探測器,數(shù)字脈沖處理器及優(yōu)化的幾何結(jié)構(gòu),確保了X射線探測的zui大效率,能夠快速地得到準(zhǔn)確的分析結(jié)果。

 

易使用,免維護

M1 MISTRAL及XSpect軟件的設(shè)計,讓操作人員只需經(jīng)過簡單的培訓(xùn)即可使用。

僅一個電源接口就可以運行儀器,采用空氣冷卻,無需消耗品。緊固的結(jié)構(gòu)確保zui高的穩(wěn)定性,并*免維護。

 

珠寶及合金分析

M1 MISTRAL是珠寶、硬幣及貴金屬的理想分析工具。所有珠寶合金、鉑族金屬及銀制品,不到1分鐘就可以確定其準(zhǔn)確成分。分析結(jié)果可以用百分比或K(克拉)表示

 

測量RoHS檢測要求

高性能的M1 MISTRAL也可以測量RoHS指令限定的輕基體的痕量元素。直接控制電氣產(chǎn)品中有害元素的濃度。

 

測量鍍層樣品

采用X射線熒光技術(shù)的M1 MISTRAL可以分析薄鍍層樣品,如印刷電路板、金屬或塑料件,包括單層鍍層和多層多層。XSpect軟件采用無標(biāo)樣基本參數(shù)法,可以同時計算鍍層厚度和鍍層組成。使用標(biāo)準(zhǔn)樣品可以進一步提高定量分析的準(zhǔn)確性。

 

 

部分應(yīng)用簡介

M1 MISTRAL的應(yīng)用領(lǐng)域很廣,我們選擇3個常見的例子進行簡要介紹。

珠寶檢測

  • 黃金
  • 白金
  • 鉑(Pt)合金
  • 銀(Ag)合金
  • 精度:優(yōu)于0.2wt%

 

 

可分析的多層鍍膜樣品

可以測定鍍層樣品的鍍層厚度及成分,例如:

  • Zn-Fe
  • Au-Ni-Cu
  • Au-Pd-Ni-Fe
  • CuSn-Ni-Cu
  • Au-Pd-Ni-Cu

 

 

XSpect分析軟件

XSpect軟件具有以下功能:

  • 儀器控制,數(shù)據(jù)采集與處理
  • 譜峰識別
  • 定量分析,采用無標(biāo)樣法和基于標(biāo)樣的經(jīng)驗系數(shù)法
  • 鍍層樣品分析,可分析鍍層厚度和成分
  • 采用基本參數(shù)法編輯特定鍍層的分析方法
  • 報告輸出

 

 

參數(shù)

M1 MISTRTALpc

M1 MISTRTALSDD

元素分析范圍

Ti(22)-U(92)

Na(11)-U(92)

激發(fā)源

高性能微焦斑光管,W靶,玻璃視窗

高性能微焦斑光管,W靶,玻璃視窗

電壓及功率

50kV,50W;可選40kV,40W

50kV,50W

探測器

大面積正比計數(shù)器,1100mm2感應(yīng)面積

Peltier制冷高性能XFlashR硅漂移探測器,30mm2感應(yīng)面積,

對Mn-Ka能量分辨率<150eV

光斑尺寸

準(zhǔn)直器:固定或4個自由切換,Φ0.1到Φ2 mm

準(zhǔn)直器:固定或4個自由切換,Φ0.2到Φ2 mm

樣品觀察

高分辨率彩色攝像系統(tǒng),放大倍率20-40倍

高分辨率彩色攝像系統(tǒng),放大倍率20-40倍

樣品臺

馬達驅(qū)動Z方向樣品臺,自動對焦,

選項:馬達驅(qū)動X-Y-Z樣品臺便捷進樣功能

馬達驅(qū)動X-Y-Z樣品臺便捷進樣功能

定量分析

塊狀樣品:基于標(biāo)樣的經(jīng)驗系數(shù)法模式和無標(biāo)樣模式

鍍層分析:FP-基數(shù)參數(shù)法模式

塊狀樣品:基于標(biāo)樣的經(jīng)驗系數(shù)法模式和無標(biāo)樣模式

鍍層分析:FP-基數(shù)參數(shù)法模式

電源

110-230V AC;50/60  Hz,zui大功率100W

110-230V AC;50/60  Hz,zui大功率120W

尺寸

(寬ⅹ深ⅹ高)

550ⅹ700ⅹ430 mm

550ⅹ700ⅹ430 mm

重量

46 kg

50 kg

 

 

 

 


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