• MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機(jī)，各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能；
• 所有型號(hào)均可配所有探頭；
型號(hào) 1100 2100 3100 4100
MINITEST 存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)量
應(yīng)用行數(shù)（根據(jù)不同探頭或測(cè)試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù)） 1 1 10 99
每個(gè)應(yīng)用行下的組（BATCH）數(shù)（對(duì)組內(nèi)數(shù)據(jù)自動(dòng)統(tǒng)計(jì)計(jì)算，并可設(shè)寬容度極限值） - 1 10 99
可用各自的日期和時(shí)間標(biāo)識(shí)特性的組數(shù) - 1 500 500
數(shù)據(jù)總量 1 10000 10000 10000
MINITEST統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能
讀數(shù)的六種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar - √ √ √
讀數(shù)的八種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk - - √ √
組統(tǒng)計(jì)值六種x,s,n,max,min,kvar - - √ √
組統(tǒng)計(jì)值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk - - √ √
存儲(chǔ)顯示每一個(gè)應(yīng)用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù) - - - √
分組打印以上顯示和存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)和統(tǒng)計(jì)值 - - √ √
顯示并打印測(cè)量值、打印的日期和時(shí)間 - √ √ √
其他功能
設(shè)置極限值 - - √ √
連續(xù)測(cè)量模式快速測(cè)量，通過(guò)模擬柱識(shí)別zui大zui小值 - - √ √
連續(xù)測(cè)量模式中測(cè)量穩(wěn)定后顯示讀數(shù) - - √ √
連續(xù)測(cè)量模式中顯示zui小值 - - √ √
• 可通過(guò)RS232接口連接MiniPrint打印機(jī)和計(jì)算機(jī)；
• 可使用一片或二片標(biāo)準(zhǔn)箔校準(zhǔn)。
MiniTest涂層測(cè)厚儀可選探頭參數(shù):所有探頭都可配合任一主機(jī)使用。在選擇zui適用的探頭時(shí)需要考慮覆層厚度，基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭：測(cè)量鋼鐵基體上的非磁性覆層
N型探頭：測(cè)量有色金屬基體上的絕緣覆層
FN兩用探頭：同時(shí)具備F型和N性探頭的功能
探頭 量程 低端分辨率 誤差 zui小曲率半徑 zui小測(cè)量區(qū)域直徑 zui小基體厚度 探頭尺寸
（mm）
磁
感
應(yīng)
法 F05 0-500um 0.1um ±（1%±0.7um） 1/5mm 3mm 0.2mm φ15x62
F1.6 0-1600um 0.1um ±（1%±1um） 1.5/10mm 5mm 0.5mm φ15x62
F1.6/90 0-1600um 0.1um ±（1%±1um） 平面/6mm 5mm 0.5mm φ8x8x170
F2/90 0-2000um 0.2um ±（1%±1um） 平面/6mm 5mm 0.5mm φ8x8x170
F3 0-3000um 0.2um ±（1%±1um） 1.5/10mm 5mm 0.5mm φ15x62
F10 0-10mm 5um ±（1%±10um） 5/16mm 20mm 1mm φ25x46
F20 0-20mm 10um ±（1%±10um） 10/30mm 40mm 2mm φ40x66
F50 0-50mm 10um ±（3%±50um） 50/200mm 300mm 2mm φ45x70
兩
用 FN1.6 0-1600um 0.1um ±（1%±1um） 1.5/10mm 5mm F0.5mm/N50um φ15x62
FN1.6P 0-1600um 0.1um ±（1%±1um） 平面 30mm F0.5mm/N50um φ21x89
FN2 0-2000um 0.2um ±（1%±1um） 1.5/10mm 5mm F0.5mm/N50um φ15x62
電
渦
流
法 N02 0-200um 0.1um ±（1%±0.5um） 1/10mm 2mm 50um φ16x70
N.08Cr 0-80um 0.1um ±（1%±1um） 2.5mm 2mm 100um φ15x62
N1.6 0-1600um 0.1um ±（1%±1um） 1.5/10mm 2mm 50um φ15x62
N1.6/90 0-1600um 0.1um ±（1%±1um） 平面/10mm 5mm 50um φ13x13x170
N2 0-2000um 0.2um ±（1%±1um） 1.5/10mm 5mm 50um φ15x62
N2/90 0-2000um 0.2um ±（1%±1um） 平面/10mm 5mm 50um φ13x13x170
N10 0-10mm 10um ±（1%±25um） 25/100mm 50mm 50um φ60x50
N20 0-20mm 10um ±（1%±50um） 25/100mm 70mm 50um φ65x75
N100 0-100mm 100um ±（1%±0.3mm） 100mm/平面 200mm 50um φ126x155
CN02 10-200um 0.2um ±（1%±1um） 平面 7mm 無(wú)限制 φ17x80
注： F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭，用于管內(nèi)測(cè)量。
N.08Cr適合銅上鉻，F(xiàn)N2也適合銅上鉻。
CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。
MiniTest涂層測(cè)厚儀探頭圖示
FN1.6
0～1600μm,φ5mm
兩用測(cè)頭，可測(cè)銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬基體上的絕緣覆層量程低端分辨率很高（O.1μm）
FN1.6P
0～1600μm,φ30mm
兩用測(cè)頭，特別適合測(cè)粉末狀的覆層厚度
FN2
0～2000μm,φ5mm
兩用測(cè)頭，可測(cè)銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬基體上的絕緣覆層
F05
0～500μm,φ3mm
磁性測(cè)頭，適于測(cè)量細(xì)小鋼鐵物體的薄覆層，如金屬鍍層，氧化層等
量程低端分辨宰很高（O.1μm）
F1.6
0～1600μm,φ5mm
磁性測(cè)頭量程低端分辨率很高（O.1μm）
F3
0～3000μm,φ5mm
磁性測(cè)頭可用于較厚的覆層
F1.6/90
0～1600μm,φ5mm
90度磁性測(cè)頭,尤其適合于在管內(nèi)壁測(cè)量量程低端分辨率很高（O.1μm）
F2/90
0～2000μm,φ5mm
90度磁性測(cè)頭,尤其適合于在管內(nèi)壁測(cè)量
F10
0～10mm,φ20mm
適合測(cè)量鋼結(jié)構(gòu)（如水箱、管道等）上的防腐覆層，如玻璃、塑膠、混凝土等
F20
0～20mm,φ40mm
適合測(cè)量鋼結(jié)構(gòu)（如水箱、管道等）上的防腐覆層，如玻璃、塑膠、混凝土等
F50
0～50mm,φ300mm
適合測(cè)量鋼結(jié)構(gòu)（如水箱、管道等）上的防腐覆層的隔音覆層
N02
0～200μm,φ2mm
非磁性測(cè)頭，尤其適合測(cè)量有色金屬基體上的氧化層等很薄的絕緣覆層
量程低端分辨率很高（O.1μm）
N0.8Cr
0～80μm,φ2mm
適用于測(cè)量銅、鋁、黃銅上的極薄鍍鉻層
N1.6
0～1600μm,φ2mm
非磁性測(cè)頭，適于測(cè)量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層
量程低端分辨率很高（O.1μm）
N2
0～2000μm,φ5mm
非磁性測(cè)頭，適于測(cè)量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層
N1.6/90
0～1600μm,φ5mm
磁性測(cè)頭，適于測(cè)量較薄的絕緣覆層,尤其適合在管內(nèi)壁測(cè)量量程低端分辨率很高（O.1μm）
N2/90
0～2000μm,φ5mm磁性測(cè)頭，尤其適合在管內(nèi)壁測(cè)量
N10
0～10mm,φ50mm
非磁性測(cè)頭，適于測(cè)量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等
N20
0～20mm,φ70mm
非磁性測(cè)頭，適于測(cè)量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等
N100
0～100mm,200mm
非磁性測(cè)頭，適于測(cè)量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等
CN02
10～200μm,φ7mm
用于測(cè)量絕緣材料上的有色金屬覆層，如覆銅板
會(huì)員1.png)
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