L303K/C 射頻導(dǎo)納物位開(kāi)關(guān)

原    理

L303K/C是基于射頻（RF）電容技術(shù)，將一個(gè)無(wú)線(xiàn)電頻率施加在探頭上，通過(guò)連續(xù)的分析，確定周?chē)h(huán)境造成的影響。因所有材料均具有介電常數(shù)，而且其導(dǎo)電率都不同于空氣，當(dāng)探頭與材料接觸時(shí)由于微小電容量偏移所反映的總阻抗發(fā)生變化。因?yàn)橥姷奶筋^和容器壁構(gòu)成電容器的二塊極板，探頭的絕緣體和周?chē)諝獬蔀榻殡姴牧希?dāng)空氣（介電常數(shù)為1.0）被任何其它材料（介電常數(shù)＞1）置換時(shí)，電容值的變化造成了阻抗的變化。這一影響被電路測(cè)量后，再與由靈敏度設(shè)置建立的參考基準(zhǔn)相比較。

應(yīng)    用

L303K/C型能用于高溫、高壓環(huán)境，液體、粉體、大固體塊料及腐蝕性物體，可檢測(cè)原油、精煉油、汽油、導(dǎo)電泥漿、水泥、煤粉、石灰等工藝物料。

技術(shù)參數(shù)

選    型