1.電學(xué)指標(biāo)
A-K 極間加壓范圍: ±100mV--2000V
A-K 極間測流范圍: ±100nA--49.90A
A-K 極間加流范圍: ±100nA--49.90A
A-K 極間測壓范圍: ±100mV--2000V
G-K 極間加壓范圍: ±100mV--20V
G-K 極間測流范圍: ±100nA--10A
G-K 極間加流范圍: ±100nA--10A
G-K 極間測壓范圍: ±100mV--20V
zui大電壓分辨率: 5mV
zui大電流分辨率: 1nA
A-K 極間加/測壓精度: 1%+10mV
A-K 極間加/測流精度: 1%+10nA+20pA/V
G-K 極間加/測壓精度: 1%+5mV
G-K 極間加/測流精度: 1%+10nA+20pA/V
電參數(shù)測試重復(fù)性： 2%
2. 可測試器件（DUT）種類
| 序號(hào) | 類型名稱 | 符號(hào) |
| 1 | 二極管 | DIODE |
| 2 | 穩(wěn)壓（齊納）二極管 | ZENER |
| 3 | 晶體管 | TRANSISTOR（NPN/PNP） |
| 4 | 單向可控硅（普通晶閘管） | SCR |
| 5 | 雙向可控硅（雙向晶閘管） | TRIAC |
| 6 | 金屬-氧化物-半導(dǎo)體場效應(yīng)管 | MOSFET（N-CH/P-CH） |
| 7 | 結(jié)型場效應(yīng)管 | J-FET（N-CH/P-CH） |
| 8 | 絕緣柵雙*功率晶體管 | IGBT（N-CH/P-CH） |
| 9 | 達(dá)林頓陣列器件 | DARLINGTON |
| 10* | 光電耦合器 | OPTO-COUPLER（NPN/PNP） |
| 11* | 光電邏輯器件 | OPTO-LOGIC |
| 12* | 光電開關(guān)管 | OPTO-SWITCH |
| 13* | 固態(tài)過壓保護(hù)器 | SSOVP |
| 14* | 硅觸發(fā)開關(guān) | STS，SBS |
共計(jì)14大類。
* 需要另行定制專門的測試適配器和測試夾具。
3.技術(shù)特征
該系統(tǒng)產(chǎn)品為供方引進(jìn)的合作技術(shù)項(xiàng)目，功率電源等方面采用新的航天技術(shù)做了改進(jìn)，各項(xiàng)技術(shù)指標(biāo)同于進(jìn)口產(chǎn)品，測試穩(wěn)定性、可靠性高于進(jìn)口產(chǎn)品，故障率明顯低于進(jìn)口產(chǎn)品。代表了目前*技術(shù)水平。具有下面特征：
* 采用嵌入式計(jì)算機(jī)，運(yùn)行速度快，擴(kuò)展能力強(qiáng)，實(shí)現(xiàn)脫機(jī)運(yùn)行；
* 采用高速16位并行D/A、A/D和并行內(nèi)部總線技術(shù)設(shè)計(jì)，速度快、穩(wěn)定性高；
* 采用脈沖法測試參數(shù)、脈寬可為300μS，占空比可達(dá)1/3000以上；
* 采用多級開爾文技術(shù)，系統(tǒng)穩(wěn)定性高，測試結(jié)果準(zhǔn)確，重復(fù)性好；
* 在線系統(tǒng)狀態(tài)、測試結(jié)果、故障定位顯示功能，使得使用方便簡單；
* 完整的系統(tǒng)自檢、校準(zhǔn)能力，10分鐘將系統(tǒng)故障定位到元件級，30分鐘完成系統(tǒng)精度檢測；
* 完整的軟、硬件升級/擴(kuò)展功能；
* DUT引腿接觸性測試、加壓限流能力、A-K短路保護(hù)、過壓/過流保護(hù)等能力，保證了系統(tǒng)安全，有效防止DUT損傷；
* 關(guān)鍵元器件均采用進(jìn)口原裝，精密電阻采用國產(chǎn)軍級，全部采用進(jìn)口原裝濕型繼電器，裝焊工藝現(xiàn)已采用航天工藝線代工，保證系統(tǒng)可靠性高于進(jìn)口產(chǎn)品；
* 二極管極性自動(dòng)判別功能，不需人工關(guān)注極性，提高操作速度，減少失誤；
* 填表式編程，3分鐘內(nèi)即可完成一個(gè)新器件編程；
* 混合參數(shù)編程方式，使電參數(shù)測試編程不受器件類別的限制，支持技術(shù)人員實(shí)現(xiàn)分析編程；
* 單參數(shù)測試延時(shí)功能，用戶可根據(jù)需要選擇參數(shù)測試延遲時(shí)間，增加參數(shù)測試穩(wěn)定性；
* 提供系統(tǒng)內(nèi)部流性負(fù)載、阻性負(fù)載選擇和外部負(fù)載接口，zui大極限地滿足測試需求；
* 計(jì)算步功能，允許將任意測試程序步的測試結(jié)果列式計(jì)算，形成新的參數(shù)，方便新參數(shù)定義；
* 分類、分檔功能，以便通過編程確定DUT的同異性，測試后自動(dòng)分類、分檔、配對等，提高
DUT使用價(jià)值；
* 單步測試功能，用于對單個(gè)參數(shù)進(jìn)行測試，同時(shí)將測試結(jié)果值在前面板上顯示，方便在線分析；
* 完整的其它后測試處理能力；
* 所有測試夾具進(jìn)行了誤差補(bǔ)償和噪聲抑制設(shè)計(jì)。
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