北京華科天成科技有限公司
閱讀:94發(fā)布時(shí)間:2025-12-1
在測量的時(shí)候?yàn)槭裁匆鄢庾V背景?ICP光譜儀廠家就來為您簡單分析。
標(biāo)準(zhǔn)樣品和被測樣品的背景不一致時(shí),容易引起測量誤差;背景強(qiáng)度過大時(shí),嚴(yán)重影響低含量元素的測定,同時(shí)造成儀器檢出限過高。因而,扣除背景有利于提高分析結(jié)果的穩(wěn)定性和準(zhǔn)確度,提升儀器靈敏度和檢出限。
多道型ICP光譜儀測量的是各通道出縫寬度內(nèi)的光強(qiáng)累加值,無法區(qū)分背景強(qiáng)度和譜線強(qiáng)度,測量精度受到背景強(qiáng)度的影響。
全譜型ICP光譜儀可以獲得每條譜線的輪廓信息,因此可結(jié)合背景校正技術(shù),正確區(qū)分背景和譜線,有效提高測量精度。
商 鋪:北京華科天成科技有限公司 http://m.liuyangwu.com/st28128/
主營產(chǎn)品:icp光譜儀,電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀,等離子體發(fā)射光譜儀,原子發(fā)射光譜儀,原子發(fā)射ICP光譜儀,單道掃描ICP光譜儀,多元素分析儀器,八大重金屬分析儀器
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