詳細摘要： 圖片簡介SE500橢偏儀是一種利用光的偏振態(tài)變化來進行薄膜性質表征的儀器，主要用來測量薄膜材料的厚度、NK參數等性質
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北京燕京電子有限公司
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詳細摘要： 圖片簡介Suragus面阻測試儀來自德國，其通過渦流的原理測量材料面阻值，該技術是一種非接觸式面阻測試技術且測試準確穩(wěn)定，對于無損檢測、在線監(jiān)測具有重要意義
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詳細摘要： 圖片簡介Suragus面阻測試儀來自德國，其通過渦流的原理測量材料面阻值，該技術是一種非接觸式面阻測試技術且測試準確穩(wěn)定，對于無損檢測、在線面阻監(jiān)測具有重要意義
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詳細摘要： 圖片 簡介 SR系列薄膜分析產品來自美國AST公司，其可以實現薄膜厚度、反射率、透射率、色度等的測量，同樣對于材料NK參數也可以實現測量，為人們針對薄膜進行...
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詳細摘要： 圖片簡介我司不僅僅為客戶提供實驗使用、科研需求的薄膜檢測、分析儀器，同時也為廣大工業(yè)用戶提供在線檢測的系統(tǒng)方案
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詳細摘要： 圖片簡介SE300橢偏儀是一種利用光的偏振態(tài)變化來進行薄膜性質表征的儀器，主要用來測量薄膜材料的厚度、NK參數等性質
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詳細摘要： 圖片簡介橢偏儀——SE200BA-M300橢偏儀是一種利用光的偏振態(tài)變化來進行薄膜性質表征的儀器，主要用來測量薄膜材料的厚度、NK參數等性質
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詳細摘要： 圖片簡介Suragus面阻測試儀來自德國，其通過渦流的原理測量材料面阻值，該技術是一種非接觸式面阻測試技術且測試準確穩(wěn)定，對于無損檢測、在線監(jiān)測具有重要意義
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詳細摘要： 圖片簡介SR系列薄膜分析產品來自美國AST公司，其可以實現薄膜厚度、反射率、透射率、色度等的測量，同樣對于材料NK參數也可以實現測量，為人們針對薄膜進行分析提供...
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詳細摘要： 圖片 簡介 SR系列薄膜分析產品來自美國AST公司，其可以實現薄膜厚度、反射率、透射率、色度等的測量，同樣對于材料NK參數也可以實現測量，為人們針對薄膜進行...
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詳細摘要： 圖片 簡介 MSP系列薄膜分析產品來自美國AST公司，其可以實現微小區(qū)域薄膜厚度、反射率、透射率、色度等的測量，同樣對于材料NK參數也可以實現測量，為人們針...
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詳細摘要： 圖片 簡介 MSP系列薄膜分析產品來自美國AST公司，其可以實現微小區(qū)域薄膜厚度、反射率、透射率、色度等的測量，同樣對于材料NK參數也可以實現測量，為人們針...
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