深圳市三經(jīng)光電科技有限公司
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產(chǎn)品型號AS-5000
品 牌
廠商性質(zhì)經(jīng)銷商
所 在 地深圳市
聯(lián)系方式:蔣生查看聯(lián)系方式
更新時間:2018-05-15 16:10:13瀏覽次數(shù):876次
聯(lián)系我時,請告知來自 儀表網(wǎng)反射比測量原理
光源發(fā)出的光通過光纖和反射式積分球(InterSphere)在物體表面發(fā)生漫反射被特別設(shè)計的積分器收集,再通過積分球另外的一個接口送到分光光度計。不管樣品表面是絨面還是拋光的,所有的反射光和散射光都會被測量到。整體反射率用來測量制絨后和鍍膜后硅片的反射率。通過標準邏輯運算計算出您想要的顏色值xyY等
積分球的使用可以避免光譜儀的飽和,它的內(nèi)表面是*的漫反射,具有非常均勻的空間非常均勻的空間反射特性,測量精度可以達到0.1%。
測量步驟,先收集外部環(huán)境光的光強,再將標準片置于積分球的采樣口測量存為參考,zui后將待測樣品置于采樣口測量,軟件會自動計算出反射比R%.
光譜儀: ASspec-UV/VIS高紫外靈敏度光譜儀 (200-1100nm)
光源: ASLight-HAL鹵鎢燈
光纖: FC-UV/VIS 譜段 FC光纖
積分球:ASsphere-50積分球,8度角采樣
AS-Solar5000是一款方便實用的絨面拋光面硅片反射率測試儀器,系統(tǒng)使用簡單,無需操作人員有專業(yè)的技能用戶可以在移動的硅片上進行連續(xù)性測量,也可以測量硅片上的固定點??勺詣由蓽y試報告及數(shù)據(jù)存儲,用戶可自定義反射率zui大值,zui小值門限設(shè)置??勺远x測量波長范圍,儀器配備標準參考片。
*積分球式整體反射率測量
*zui低反射率波長
*自動報告生成
*平均反射率測量
*顏色計算
規(guī)格
測量
測量參數(shù) 反射率光譜 / 膜厚 / 顏色
反射率范圍 0 ~ 100 %
波長范圍 200 ~ 1100 nm
反射率精度 ±0.1 %
反射率重復(fù)性* <0.05%
顏色測量 XYZ
硬件
測量幾何 積分球 (所有角度反射光的測量)
測量光斑 ~ 8 mm
測量速度 < 1 s / point
硅片大小 156 x 156mm / 125 x 125mm
樣品臺 320 x 320mm
環(huán)境溫度: 15-35°C (50-90°F),
濕度: <90% (non-condensing)
電源 AC 100 ~ 240V; 50/60 Hz
PC / 軟件
測量功能 整體反射率測量/zui小反射率波長定位/顏色/膜厚
PC 要求 Windows XP, 2GB RAM
您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
商 鋪:深圳市三經(jīng)光電科技有限公司 http://m.liuyangwu.com/st30383/
主營產(chǎn)品:產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于光伏產(chǎn)品之光學(xué)自動量測,晶硅電池測量,薄膜電池測量,晶硅硅料測量,電池模組測量,電池應(yīng)用測量等。
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